santec Holdings株式会社 光学特性検査システム 『Swept Test System』
- 最終更新日：2022-05-12 17:09:17.0
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波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット（PCU-110）および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。
波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。
■特長
・リスケーリングアルゴリズム (高分解能 0.1 pm)
・リアルタイムパワーリファレンス (再現性 0.02 dB)
・光源内蔵の高精度波長モニタ (絶対波長精度 3 pm)
基本情報光学特性検査システム 『Swept Test System』
■特性
・リアルタイムパワーリファレンス
・高精度にIL/WDL / PDL特性測定可能
- 高いIL再現性<± 0.02 dB
- 高いPDL再現性± 0.01 dB
・スケーリングアルゴリズム
- 高い波長分解能と波長精度で測定可能
- 測定時間の短縮が可能
・マルチチャンネル測定が可能
・グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート（Visual Studio）
- 測定パラメーターを簡単に設定可能
- データ分析
※英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ■用途 ・光部品、モジュール評価 - 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー - フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ - DWDM 部品 ・フォトニックデバイス、マイクロキャビティ共振器評価 ・分光計測 |
カタログ光学特性検査システム 『Swept Test System』
取扱企業光学特性検査システム 『Swept Test System』
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・santec AOC株式会社（光コンポーネント、光サブシステム、空間光変調器） ・santec LIS株式会社（波長可変光源、検査測定装置） ・santec OIS株式会社（波長可変光源、検査測定装置、医療機器） ・ネットワーク製品（PC遠隔支援、セキュリティL2スイッチほか）
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