微小異物の断面観察巴川コーポレーション

高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得意です！

　FIB（集束イオンビーム）は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。

　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。

　

基本情報微小異物の断面観察

「モノづくり」には、「分析力」のサポートが重要になります。

　巴川分析センターはお客様のコスト・スピード感を理解し、
　問題解決型の分析提案をする様努めています。

　分析の必要性を感じているが
　どうしたらよいかお困りな場合には
　
　是非ご相談下さい。

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用途／実績例	カタログをご参照ください。　FIB（集束イオンビーム）加工観察により狙った微小領域をピンポイントで断面化できます。断面SEM写真や元素分析による微小混入異物を調査した事例を紹介します。　7μm×2μmの異物を断面化してSEM（電子顕微鏡）よる画像解析、EDSによる元素分析を行いました。応用として樹脂、フィルム、紙、シリコン、金属の単体や積層体にも対応できます。

詳細情報微小異物の断面観察

: 表面からの観察により、膨らみが確認できました

: FIBにより、膨らみ部分を掘り出します

: 掘り出した切片を取り出します

カタログ微小異物の断面観察

微小異物の断面観察

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取扱企業微小異物の断面観察

株式会社巴川コーポレーション

【トナー事業】トナーの製造、販売に関する事業【半導体・ディスプレイ事業】 FPD向け光学フィルムの製造、販売に関する事業、半導体関連の電⼦部品材料の製造、販売に関する事業【機能性シート業】洋紙・機能紙の抄造、販売に関する事業及び紙等への塗工、販売に関する事業【セキュリティメディア事業】有価証券、カード、帳票、磁気記録関連製品等の製造・加工・販売及び情報処理関連事業【新規開発事業】当社グループ保有の基礎・要素技術の融合と新技術開発により、新製品開発と需要家への販売【その他の事業】不動産賃貸、物流サービス等