JFE商事エレクトロニクス株式会社 パーティクル管理のソリューション

パーティクルに関するお困りごとを当社がお手伝い致します。

洗浄の工程管理に好適な液中パーティクルカウンタ、表面粒子パーティクルカウンタのご紹介

【製品特長】
■液中パーティクルカウンタ(HIAC9703+、HIAC8011+)
高精度、短時間での測定が可能。油圧作動油、水系・油系洗浄液など様々なサンプルに対応可能。日本語ソフト対応で操作が簡単。測定データはUSBメモリ、PCへ出力可能。

■表面粒子パーティクルディテクタ(QIII Max)
簡単な操作で短時間での測定が可能。測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブが選択可能。局所的な測定で発塵減を特定。

基本情報パーティクル管理のソリューション

■HIAC液中パーティクルカウンタ:湿式での部品の清浄度管理、洗浄液(水、油系)の状態把握

■表面粒子パーティクルディテクタ:乾式での部品の清浄管理、設備の状態把握

パーティクル管理に関連する粘度・密度、元素分析、磁性体粒子モニタリングなども併せてご提案致します。
導入をご検討されておりますお客様につきましてはサンプルテストやデモンストレーション、技術説明(TeamsでのWeb上でも可)を実施しております

価格情報 別途お問合せ
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ・油系・水系洗浄液の汚染度評価
・部品(小型・大型)の洗浄確認
・洗浄手順の確立

その他、お困りごとございましたらご相談ください。

カタログパーティクル管理のソリューション

取扱企業パーティクル管理のソリューション

tokyo_140x140.jpg

JFE商事エレクトロニクス株式会社

システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ(センサー)関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器 等。 計測機器営業室では主に海外の最先端の計測器、分析装置、製造装置を取り扱っております。下記分野・用途への適用が可能です。 *微粒子に関するコンタミネーションコントロールのノウハウとソリューション — 領域は液中、真空中、大気中(表面汚染粒子) *微量成分分析、ナノサイズの物質の形状・環境変化に応じた動態観察  *膜ムラ分布分析  *マイクロ波分解・合成調製  *粘度、密度、粘弾性、ゼータ電位測定

パーティクル管理のソリューションへのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須
ご要望必須

  • あと文字入力できます。

目的必須
添付資料
お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。

はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら

イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。

※お問い合わせの際、以下の出展者へご連絡先(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されます。

JFE商事エレクトロニクス株式会社