CCTECH Japan 半導体プローバー CP12
- 最終更新日：2021-03-03 16:46:21.0
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従来のサイズから小型化を求めた省スペースタイプのプローバーになります。スループットの大幅な改善と光学の技術によるウェハーアライメント、また、テストアプリケーションを介し、プローバー機能とテスト機能に効率よくアクセスすることにより、ソフトウェアの開発期間を大幅に短縮します。
基本情報半導体プローバー CP12
● プローバー寸法：1,620x1,240 mm
● 対応ウェハー：8", 12"
● 対応ダイサイズ：350um ~ 76,000um
● プロービングエリア：±170mm（-155mm-200mm）
● インデックスタイム：250ms (6x6mmダイサイズ時）
● スループット改善のためのプリアライメントとOCRユニット搭載
● デジタルズームカメラ搭載
● APC (Auto Probe Changer)
● Class 10 対応
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | 半導体プローバー CP12 |
| 用途／実績例 | センサー関連製品、アナログミクスト製品、マイコンなど、ウェハー上のダイにピンを当て電手的テストを行う際に必要はプローバーになります。幅広い半導体製品に使用することができます。 |
詳細情報半導体プローバー CP12
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半導体用プローバー
カタログ半導体プローバー CP12
取扱企業半導体プローバー CP12
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CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
事業内容は主に ★半導体ウェハー上で検査するために必要なプローバー、テスター、ハンドラー ★モジュール検査用のデジタル検査装置 ★Wafer上の各ダイがムラなく均一に製造されているか確認できる外観装置。 ★Wafer上の前工程で異物やパーティクルなどを確認する外観装置 などをご提供しております。 製品は、既存で準備している製品から、お客様の要望に基づき、検査装置をカスタム開発することも行っており、スタートアップかつ、若手Engineerが多く活躍する非常に柔軟な対応のできる企業になります。新規工場設立の際の検査装置の導入から、既存ラインで、人的外観検査を行っている部分へ外観検査装置を導入することで、検査の精度を上げつつ、経費を削減できることを可能にします。現在人的に検査をしている作業を自動化させるための製品を提供しております。
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