アンリツ株式会社 反射率分光 膜厚測定器

薄膜フィルムや、半導体の誘電膜など「非金属系」の薄膜を評価する際に行う非破壊・非接触の膜厚測定

▶ナノレベル~ミクロンレベルまで、幅広い膜の厚さを測定したい
▶製造現場はもちろん、自身のデスクでも測定や解析をしたい
▶測定のタクトタイムを早くしたい
▶微細箇所の薄膜を測定したい。膜厚の均一性結果を可視化したい

⇒各種薄膜の膜厚特性に対する課題を、用途に応じた膜厚測定器にて解決

ーー非金属系薄膜 膜厚測定器のライナップーーーーーーー
 ◎シングルポイント 膜厚測定システム「F20シリーズ」
 ◎顕微鏡式 膜厚測定システム「F40シリーズ」
 ◎自動マッピング 膜厚測定システム「F50シリーズ」

基本情報反射率分光 膜厚測定器

仕様・機能など、詳細情報はカタログをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

★デモ測定も受付中。お申し込みの先着50名へ“ノートPCケース”を進呈しています。

価格帯 お問い合わせください
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型番・ブランド名 反射率分光 膜厚測定器・Filmetrics
用途/実績例 詳細は、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ反射率分光 膜厚測定器

取扱企業反射率分光 膜厚測定器

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アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

素材からかたちまで コト・モノづくりをサポートする‘状態の可視化’をご提供します 【熱・温度】 •電子基板や部品の温度分布測定、状態監視 •設備保守 【振動】 •電子部品、製品や機械の振動試験 【ひずみ・応力】 •応力解析 •耐久性試験 【膜厚・組成】 •コネクタや接点の多層コーティング膜厚測定 •プリント回路基板の薄膜測定 【3D形状計測】 ・リバースエンジニアリング ・CAD用スキャン ・対象物とCADの比較検査

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