JFE商事エレクトロニクス株式会社 パーティクル管理のソリューション

パーティクルに関するお困りごとを当社がお手伝い致します。

洗浄の工程管理に適した液中パーティクルカウンタ、表面粒子パーティクル検出器のご紹介です。

【製品特長】
■液中パーティクルカウンタ(HIAC9703+)
 高精度、短時間での測定が可能。水系サンプルに対応可能。
 日本語ソフト対応で操作が簡単。測定データはPCへ出力可能。

■液中パーティクルカウンタ(Vertex50、Remote LPC)
 毎分100mLの流量で50nmからの測定が可能。0.1umからの常時監視用としてリモート型の製品も用意。

■表面粒子パーティクル検出器(QIII Max)
 簡単な操作で短時間での測定が可能。測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブが選択可能。
 局所的な測定によって微粒子の発生源を特定。

■オンライン式状態監視システム(LubCosシリーズ)
 流体の経年劣化、不適切な流体、添加物不足、危険領域の酸化度の検知、
含水量、粘土測定がオンラインで監視可能。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報パーティクル管理のソリューション

■HIAC液中パーティクルカウンタ:湿式での部品の清浄度管理、洗浄液(水系)の状態把握

■Lighthouse Worldwide Solutions液中パーティクルカウンタ:湿式での部品の清浄度管理、洗浄液(水・溶剤)の状態把握

■表面粒子パーティクル検出器:乾式での部品の清浄管理、設備の粒子汚染度状態把握

パーティクル管理に付随する粘度・密度・元素分析なども併せてご提案致します。
導入をご検討されておりますお客様につきましてはサンプルテストやデモンストレーション、技術説明(TeamsでのWeb上でも可)を実施しております。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■油系・水系洗浄液・溶剤の汚染度評価
■部品(小型・大型)の洗浄確認
■洗浄手順の確立
その他、お困りごとございましたらご相談ください。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログパーティクル管理のソリューション

取扱企業パーティクル管理のソリューション

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JFE商事エレクトロニクス株式会社

システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ(センサー)関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器 等。 計測機器営業室では主に海外の最先端の計測器、分析装置、製造装置を取り扱っております。下記分野・用途への適用が可能です。 *微粒子に関するコンタミネーションコントロールのノウハウとソリューション — 領域は液中、真空中、大気中(表面汚染粒子) *微量成分分析、ナノサイズの物質の形状・環境変化に応じた動態観察  *膜ムラ分布分析  *マイクロ波分解・合成調製  *粘度、密度、粘弾性、ゼータ電位測定

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