テスト用ダミーウェハー SE TECH INTERNATIONAL

研究・開発用、装置テスト・評価用ウェーハ、シリコン（結晶）の加工、販売。

研究用窓材、X線干渉計、光学系などに使用する結晶加工、厚み３５μm～5ｍｍ、ウェハー、長方形板など、

国内外研究機関、大学研究室に取引実績がございます。

ダイシング、溝加工、石英板、ウェハーなどお気軽にご相談ください。

基本情報テスト用ダミーウェハー

サイズ inch 12
製法 – CZ
タイプ – P or N
結晶方位 – 100 /110 /
厚み μm 775±25
抵抗値 Ω･cm 0.001～10000Ω
LM　　　SEMI/T７．M12
面状態 – 両面ミラー
数量 lot 25枚 / ケースor２００枚入り発泡ケース
梱包形態 – ウェハーケース＋クリーンパック
備考 – ※高精度ウェハーお問い合わせください。
※低パーティクルウェハー、膜付けはお問い合わせ下さい。

価格情報	ご希望のスペック、数量によって価格が変動致します、まずはお気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯	~ 1万円
納期	即日 ※ご希望スペックによって納期が変動します、お問い合わせ下さい。
用途／実績例	再生可能ウェハー、テスト、ダミーウェハーについては、国内外ウェハー再生、装置メーカー、納品の実績がございます。実験テスト用シリコン結晶の加工は日本国内外の各国立研究機関、大学研究室などに納品実績がございます。切り出し、穴開け、研磨加工、薄化加工などご用途、ご希望に添える加工技術がございます、お気軽にお問い合わせ下さい。