ブルカージャパン株式会社【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

最終更新日：2024-04-08 09:32:44.0
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分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます！

赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる
赤外レーザーイメージングに対応します。

当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、
「関心領域（ROI：Regions Of Interest）の迅速な検出」や「赤外レーザー
イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。

QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に
基づくより正確な定性分析を実現します。

【掲載内容】
■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて
■関心領域（ROI：Regions Of Interest）の迅速な検出
■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット
■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出
■FT-IRによる分析の信頼性の向上
■FT-IRとレーザーイメージング：強力なコンビネーション

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基本情報【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

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