平面ハレーション観察用マイクロスコープ　普及版（中倍率）シーズインターナショナル

0.75〜4.5倍のズーム倍率で「4ミクロン」までのキズ検出

ズームでターゲットを絞り込んで拡大観察にて容易にキズを見つけ出すことができる、汎用性抜群のマイクロスコープです。
ズーム倍率0.75〜4.5倍で観察できるテレセントリックズームレンズとハレーション高輝度照明で高精彩画像を実現し、「見えないものを観る」平面観察用マイクロスコープとして品質検査に抜群の性能を発揮します。

基本情報平面ハレーション観察用マイクロスコープ　普及版（中倍率）

【特長】
●外部照射光による正反射像なのでロスのない画像が得られる。
●微少角を持つ反射像が得られるので、表面の隆起状態が確認できる。
●照明がレンズ光軸に接近しているので隙間（実装後のＢＧＡ）の観察が可能。
●ワークとカメラ間に照明を持たないのでレンズ内での照明リークによる影響はなく、
　クリアーな画像が得られる。

※詳細はお問合せ、またはカタログをご覧下さい。

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型番・ブランド名	PS-100-S7Z45C
用途／実績例	●ＥＬ・ＬＣＤのＩＴＯの検査。　液晶等封入状態でも観察可能。スペーサ分布検査。 ●ＩＣチップのくラック・キズ・汚れ４ミクロンまで検出可能。 ●鏡面塗装・異物・傷・ピンホール等４ミクロンまで検出可能。 ●硝子・プラスチック・金属等の異物・傷・汚れ・ウォーターマークの検査。 ●薄膜・蒸着・コーティング等のピンホ−ル・剥離・傷の検査。 ●実装後のＢＧＡ、セラミックス、ゴム系等の検査。