JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL http://www.ipros.jp/public/product/image/b01/240960091/IPROS4307375796339595803.jpg 【優れたエネルギー分解能】 エネルギー分解能が10eV程度と高いため、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。 【微量元素(±数100ppm~数1,000ppmの定量精度)の分析】 分光結晶のチャンネル1つに対して1元素を分析することから、±数100ppm~数1,000ppm(0.01~0.1%オーダー)の微量な元素の分析に適しています。 金属試料の材料判別や含有率の低い不純物の分析などの実施が可能です。 【微量元素・軽元素の高感度検出】 微量元素は100ppm(0.01%)程度の検出限界になります。(※元素によって異なります。) 軽元素の高感度分析用の分光結晶も装備されていますので、B~Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【多彩な分析手法】 X線による非破壊分析 多元素同時分析(※SQX法) マッピング表示 金属試料の材料判別(SUS、アルミ合金、銅合金) メッキの膜厚測定 JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社 測定・分析 > 分析機器 > 蛍光X線分析装置 観察分析>分析サービス>表面元素分析>蛍光X線分析(XRF) - 分析内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

蛍光X線分析装置(XRF)を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。
弊社所有の蛍光X線分析装置(XRF)は波長分散型X線分析法(WDX)を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。
WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。

基本情報蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

【優れたエネルギー分解能】
エネルギー分解能が10eV程度と高いため、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。

【微量元素(±数100ppm~数1,000ppmの定量精度)の分析】
分光結晶のチャンネル1つに対して1元素を分析することから、±数100ppm~数1,000ppm(0.01~0.1%オーダー)の微量な元素の分析に適しています。
金属試料の材料判別や含有率の低い不純物の分析などの実施が可能です。

【微量元素・軽元素の高感度検出】
微量元素は100ppm(0.01%)程度の検出限界になります。(※元素によって異なります。)
軽元素の高感度分析用の分光結晶も装備されていますので、B~Uまでの元素の高精度な定量が可能です。

【多彩な分析手法】
X線による非破壊分析
多元素同時分析(※SQX法)
マッピング表示
金属試料の材料判別(SUS、アルミ合金、銅合金)
メッキの膜厚測定

価格 -
分析内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
※分析内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
発売日 取扱い中
型番・ブランド名 観察分析>分析サービス>表面元素分析>蛍光X線分析(XRF)
用途/実績例 ・無機異物の定性・定量分析
・SUS、アルミ合金、銅合金の材料判別
・セラミックの材料分析
・メッキの非破壊膜厚調査
・金属試料中の不純物の含有量調査
・付着物や異物の元素分析

カタログ蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

取扱企業蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

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●計測サービス 三次元座標測定機・画像測定機・光学式3Dデジタイザなどを用いて部品寸法を精密に測定します。 ●試験サービス 振動試験機・引張圧縮試験機・電気試験機などを用いて製品や材料の性能評価・耐久試験を行います ●分析サービス SEM・EPMA・HPLC・GC・ICPなどを用いて形態観察や化学分析を行います。

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