X線透過観察サービス｜JTL JAPAN TESTING LABORATORIES

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

【最小焦点寸法：0.25μmでの高分解能観察】
焦点寸法が最小で0.25μm（理論値）であるため、数ミクロン～数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。

【X線管電圧：30kV～160kVの幅広い透過力】
X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。

【多方向からの観察】
検出器（I.I.管）は最大70°まで傾動、サンプルを中心に360°回転するため、高倍率を損なうことなく多方向からの観察が可能です。

【多数個サンプルの自動検査が可能】
大型テーブルと自動撮影プログラムを使用することで、多数個サンプルの自動撮影、不具合品の選別などの検査が可能です。

関連リンク - https://jtla.co.jp/service/measurement_product/non…

基本情報X線透過観察サービス｜JTL

X線透過観察サービスでは、X線での非破壊観察により試料の内部構造を観察・検査・計測を行うことができます。電子部品や実装部品などの不具合解析によく用いられる手法です。
JTLでは、電子デバイスの他に各種素材、部品・製品形状の試料について、内部構造観察から不具合の多数個検査まで幅広いニーズにご対応します。

【X線透過装置の構造】
X線は電波や太陽の光と同じ電磁波の一種です。
電磁波は空気中や物質の中を一定の波長を打ちながら直進する性質があります。また波長が短いため物質を透過する性質を持ち、密度の高いものは透過しにくく、逆に低いものは透過しやすいと言った性質があります。
X線管からX線を発生させ、試料を透過したX線をI.I.管にて可視光像に変換し、観察を行います。

価格情報	- 観察内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
納期	お問い合わせください ※観察内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
型番・ブランド名	観察分析＞観察サービス＞非破壊内部構造観察＞Ｘ線透過観察サービス
用途／実績例	・各種電子デバイス（チップ部品・BGA等）の接合状態確認・ボイド率等の計測・ワイヤーボンディングの断線確認・ワイヤーの流れ率の計測・基板の配線パターンの確認・樹脂材料の内部ボイド調査・樹脂材料内のガラス繊維の配向確認（※一部可）・樹脂・セラミック材料の内部異物検査・アルミ鋳造品の内部ボイド調査・組み付け部品の勘合状態の確認（加締め状態など）・量産品の不良検査（プログラム作成による多数個測定）

カタログX線透過観察サービス｜JTL

X線透過観察の受託サービスカタログ

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取扱企業X線透過観察サービス｜JTL

JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社

●計測領域製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに対し、受託専門機関ならではの幅広い知識・設備力で対応します。 ●試験領域治具作製から試験前準備、規格・特殊試験にわたりR&Dに関わる信頼性試験をワンストップで対応します。 ●分析領域解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。