JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 ミクロトームによる受託サービス｜JTL
- 最終更新日：2018-03-08 16:12:34.0
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切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。
光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。
ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最適な試料調整サービスをご提供致します。
LEICA製
EM-UC7
●倍率：9.6～77倍
●観察角度：5°～25°
●カット速度：0.05～100mm/s
●断面厚さ：0～15,000nm
基本情報ミクロトームによる受託サービス｜JTL
複合材の平滑な試料調整が可能
硬さの異なる複合材の場合、機械研磨では段差が発生することが多々あります。ミクロトームによる切削方法では平滑に試料調整を行うことが可能です。
水・研磨材を使用しない試料調整
水や研磨材を使用することなく試料調整を行うことができる為、試料そのままの状態を保ったまま調整を行うことが可能です。
硬軟複合材試料もダレなく調整
超精密な切削による試料調整の為、従来困難だった硬軟複合材試料もダレなく調整可能です。
| 価格情報 |
- 観察・分析内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
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| 納期 |
お問い合わせください
※観察・分析内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
| 型番・ブランド名 | 設備＞ミクロトームによる受託サービス |
| 用途／実績例 | ・狙い位置のある試料調整 ・EBSD解析前の試料調整 ・銅線（はんだ）の断面出し ・界面の剥離状態確認 |
カタログミクロトームによる受託サービス｜JTL
取扱企業ミクロトームによる受託サービス｜JTL
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JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
●計測領域 製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに対し、受託専門機関ならではの幅広い知識・設備力で対応します。 ●試験領域 治具作製から試験前準備、規格・特殊試験にわたりR&Dに関わる信頼性試験をワンストップで対応します。 ●分析領域 解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。
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