株式会社ニューリー・土山 JTAGテストツール(バウンダリースキャンテスト)
- 最終更新日:2007-08-06 15:52:25.0
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CSP・BGA・MCM搭載基板の実装検査が簡単に行えるテスター
●PCベースでバウンダリスキャン・テストパターンを自動生成、検査します。
●半田ブリッジ、オープン等、ピンレベルの不良解析が可能です(スキャンプラス・ ランナーADOオプション)。
●検査機能には以下のものがあります。
・TAP Integrity
・Interconnect
・Buswire
・Cluster
・メモリ、FIFOデバイステスト
技術サポート万全! 治具まで含め全て引き受けられます。
基本情報JTAGテストツール(バウンダリースキャンテスト)
狭ピッチリードやボールグリッドの出現により、テストプローブによるアクセスが困難になっているCSP、BGA、MCM等のSMTデバイス搭載基板の実装不良を確実に検出します。JTAGテストツールには、ScanExpress TPG(テストプログラム開発ソフト)、ScanExpress Runner(テスト実行ソフト)、ScanExpress ADO(不良解析ソフト)等があり、基板との接続にはコントローラ(I/F)が必要です。
価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | Corelis ScanExpress シリーズ |
用途/実績例 | JTAG対応デバイス(IEEE1149.1標準基準に対応)搭載の高密度実装基板の実装不良検査。特に、産業電子分野では、通信機器、業務用複写機、医療電子機器、サーバー、あるいはCPUボードのテストに偉力を発揮します。 |
カタログJTAGテストツール(バウンダリースキャンテスト)
取扱企業JTAGテストツール(バウンダリースキャンテスト)
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