ライフタイム測定装置
ライフタイム測定装置 http://www.ipros.jp/data/products/tmp/297634/002/img/WT-2000_R.jpg ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。 日本セミラボ株式会社 新横浜本社 製造・加工機械 > 半導体製造装置 > 半導体検査/試験装置 SEMILAB社製 WT-2000 -
  • u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります
    日本セミラボ株式会社
    オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。
    (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)
  • ライフタイム測定装置の製品画像です
    ライフタイム測定装置の製品画像です

基本情報ライフタイム測定装置

ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。
シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。
※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。

価格

-

価格帯

納期


※2〜4ヶ月

発売日

取扱い中

型番・ブランド名

SEMILAB社製 WT-2000

用途/実績例

太陽電池マーケットでは、世界的に業界標準化しており、ブロック/ウェハー製造(インライン)、セル工程など様々な開発、製造管理工程などでご使用頂いております。

よく使用される業種

電子部品・半導体、試験・分析・測定、商社・卸売り、教育・研究機関、その他

取扱会社ライフタイム測定装置

■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■太陽電池測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供

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