結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)
結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式) http://www.ipros.jp/data/products/tmp/297634/008/img/SIRM300_R.jpg 結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属 堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。 日本セミラボ株式会社 新横浜本社 製造・加工機械 > 半導体製造装置 > 半導体検査/試験装置 SIRM300 -

基本情報結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。
様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属 堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。

価格

-

価格帯

納期

発売日

取扱い中

型番・ブランド名

SIRM300

用途/実績例

- 非破壊なのでサンプルを無駄にしません
- ウェハー裏面の状態を問いません
- 高ドープウェハーの測定が可能です (epiの場合: 3mΩcm)
- パーティクル検出限界: 20nm
- 300mmまでのウェハー測定可能
- 自動ウェハー搬送(エッジグリップハンドリング)
- レーザーマーキングオプション

よく使用される業種

樹脂・プラスチック、電子部品・半導体、試験・分析・測定、製造・加工受託、商社・卸売り、教育・研究機関

取扱会社結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■太陽電池測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度[必須]

ご要望[必須]


  • あと文字入力できます。

動機[必須]

添付資料

お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせの際、以下の出展者へご連絡先(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されます。

日本セミラボ株式会社 新横浜本社