ナノサイエンス株式会社 EAG 『AFM/SPM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)』

『AFM/SPM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)』 http://www.ipros.jp/public/product/image/a4f/310787023/IPROS2748262613057767115.jpg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ナノサイエンス株式会社 EAG 測定・分析 > 顕微鏡・マイクロスコープ > その他顕微鏡・マイクロスコープ
原子レベルの表面形状測定やPN接合分布測定(SCM)等が可能!

『AFM/SPM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)』は、ナノサイエンス
株式会社が提供する表面分析受託サービスの形態観察/構造解析です。

原子レベルの表面形状測定やPN接合分布測定(SCM)等ができます。

AFM/SCMアプリケーションIII-V系材料による異常成長したGaSa表面の形状
観察やヒドロゲルをコーティングしたカテーテルなどの例があります。

【特長】
■定量分析:No
■検出感度:―
■化学結合状態:No
■破壊測定:No
■空間分解能/ビーム径:1.5-5nm
■深さ分解能:0.01nm

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基本情報『AFM/SPM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)』

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
発売日 取扱い中
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取扱企業『AFM/SPM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)』

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ナノサイエンス株式会社 EAG

【表面分析受託サービス】 ■不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染、有機物など) ・SIMS(二次イオン質量分析) ・TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析) ・GDMS(グロー放電質量分析) ・SRA(SiまたはGe半導体材料中の広がり抵抗測定)など ■組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS(透過型電子顕微鏡) ・RBS/HFS(ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析) ・XPS/ESCA(X線光電子分光分析)・XRR(X線反射率測定)など ■形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・TEM/STEM(透過型電子顕微鏡) ・CL(カソードルミネッサンス) ・FIB/SEM(集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡) ・AFM(原子間力顕微鏡)など 【その他】 ■ORS社分析サービス 気密性試験 ・IVA分析/HR-IVA分析(半導体などの封止パッケージ内の水分量、ガス成分分析) ・半導体などの封止パッケージの気密性試験

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