株式会社IHI検査計測 高精度過流探傷(ET) 欠陥検出技術
- 最終更新日:2012-10-10 16:34:31.0
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高精度過流探傷(ET) 欠陥検出技術
最大検出精度30μm:深さ方向の欠陥検出が可能ま
高精度過流探傷(ET)欠陥検出技術
【特徴】
○最大検出精度30μm: 深さ方向の欠陥検出が可能
(従来の検出精度1,000μm)
○湾曲部等の特殊形状部位の欠陥検出が可能
○ニーズに合わせたプローブの製作が可能
(最小径:φ2mm〜)
○非鉄金属(常磁性金属)の欠陥検出に最適
●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
基本情報高精度過流探傷(ET) 欠陥検出技術
最大検出精度30μm:深さ方向の欠陥検出が可能ま
高精度過流探傷(ET)欠陥検出技術
【特徴】
○最大検出精度30μm: 深さ方向の欠陥検出が可能
(従来の検出精度1,000μm)
○湾曲部等の特殊形状部位の欠陥検出が可能
○ニーズに合わせたプローブの製作が可能
(最小径:φ2mm〜)
○非鉄金属(常磁性金属)の欠陥検出に最適
●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
価格情報 | - |
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用途/実績例 | 【用途】 ○チタン ○ステンレス ○銅合金 |
カタログ高精度過流探傷(ET) 欠陥検出技術
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