株式会社レスター 低価格 光学式薄膜測定装置

反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた、光学式薄膜測定装置。

反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた光学式薄膜測定装置

■□■特徴■□■

■透明または半透明な薄膜の表面と基板との界面からの反射を
  解析することにより、数秒で解析が簡単に行える
■膜厚の他、光学定数の測定もこの1台で行えるので、
  オリジナル材料の登録が可能であり、ユーザーの使用用途に沿った
  運用ができる
■パワフルでシンプルな低価格システム

■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。

基本情報低価格 光学式薄膜測定装置

反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた光学式薄膜測定装置

■□■特徴■□■

■透明または半透明な薄膜の表面と基板との界面からの反射を
  解析することにより、数秒で解析が簡単に行える
■膜厚の他、光学定数の測定もこの1台で行えるので、
  オリジナル材料の登録が可能であり、ユーザーの使用用途に沿った
  運用ができる
■パワフルでシンプルな低価格システム

■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。

価格情報 -
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名 F20
用途/実績例 ■□■アプリケーション■□■

■フォトレジスト
■酸化膜
■窒化膜
■機能性フィルム
■光学膜
■各種保護膜
■ITO膜
■DLC膜
■その他有機薄膜等

カタログ低価格 光学式薄膜測定装置

取扱企業低価格 光学式薄膜測定装置

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