顕微分光光度計。ＵＶから可視光、近赤外に渡る広範囲で測定可能。
ＵＶから可視光、近赤外に渡る広範囲で測定可能な顕微分光光度計
■□■特徴■□■
■吸収、反射、蛍光、偏光を、観察エリアはそのままに、
測定スポットだけを最小１ミクロンまで、６段階切替えて測定可能
■非接触・非破壊で、深紫外から近赤外までを一度に、ワンショットで
高速測定可能
■システムには、高性能のＵＶ−ＶＩＳ−ＮＩＲブロードバンド顕微鏡、
高解像度のカラーデジタル画像システム、UV保護アイピース、コンピュータ
及びスペクトル解析／システム制御ソフトウエアパッケージが
含まれている
■詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
基本情報顕微分光システムUV-VIS-NIR
ＵＶから可視光、近赤外に渡る広範囲で測定可能な顕微分光光度計
■□■特徴■□■
■吸収、反射、蛍光、偏光を、観察エリアはそのままに、
測定スポットだけを最小１ミクロンまで、６段階切替えて測定可能
■非接触・非破壊で、深紫外から近赤外までを一度に、ワンショットで
高速測定可能
■システムには、高性能のＵＶ−ＶＩＳ−ＮＩＲブロードバンド顕微鏡、
高解像度のカラーデジタル画像システム、UV保護アイピース、コンピュータ
及びスペクトル解析／システム制御ソフトウエアパッケージが
含まれている
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| 価格情報 | - |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | QDI2010（TM) |
| 用途／実績例 | ■□■アプリケーション■□■ ■フラットパネルディスプレイ ■フラットパネル用光源 ■有機ＥＬディスプレイ ■半導体解析 ■法科学解析 ■表面プラズモン共鳴 |
カタログ顕微分光システムUV-VIS-NIR
取扱企業顕微分光システムUV-VIS-NIR
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