株式会社Wave Technology イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）
- 最終更新日：2019-12-26 14:32:50.0
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イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）
・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point）
・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。
・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。
・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。
・応力シミュレーションサービスのご提案も可能。
基本情報イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）
・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、プリント基板等の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPENとなる瞬間をモニタリングできるシステム。
・落下衝撃試験機等と組み合わせて使用可能。
| 価格情報 | - |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ・イベントディテクタ（イベントディテクト）としての活用 ・落下衝撃試験機等と組みあわた評価 ・電子機器の接続信頼性評価 ・大手半導体メーカーにて導入実績あり |
カタログイベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）
取扱企業イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）
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半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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