セイコーフューチャークリエーション株式会社 【FIB】FIBによる配線修正・回路修正(回路変更)加工サービス

正確・迅速・短納期で回路変更を目的とした半導体内部配線修正を行います

FIBによりICおよびLSIの回路修正変更とした配線修正を実施可能です。
具体的には
・配線の切断
・配線の接続
・特性評価用のテストパッドの作製
等でお客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいております。

サービス開始から約30年が経ち常に技術向上させ、正確・迅速・短納期で高歩留まりを実現し、お客様から高評価をいただいています。

また、FIBでは断面観察はもちろんのこと、ダイシング法、リフトアウト法によるTEMサンプル作製も承っており高い実績を誇っています。

セイコーフューチャークリエーションのFIB技術をぜひご活用下さい。

基本情報【FIB】FIBによる配線修正・回路修正(回路変更)加工サービス

【特長】
○FIBによるLSIおよびIC配線の切断、接続、評価用テストパッドの作製を行います
○マイクロ部品の加工、SPM評価用テストパターンの作成、TEM観察用試料作成を行います

●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください

価格情報 -
納期 お問い合わせください
用途/実績例 実績例に関してはぜひお問い合わせください。

カタログ【FIB】FIBによる配線修正・回路修正(回路変更)加工サービス

取扱企業【FIB】FIBによる配線修正・回路修正(回路変更)加工サービス

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セイコーフューチャークリエーション株式会社

各種、分析・試験の受託 (機器分析、集束イオンビーム加工、環境分析、材料試験、技術コンサルティング(材料・熱処理・表面処理 等)) 必要な情報やお困りごと等ありましたらぜひご連絡ください。 E-Mail:sfc-tr1@seiko-sfc.co.jp

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