協立テストシステム株式会社 プレスなしインサーキットテスター  Focus-250

協立テストシステムは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。お客様の生産ラインにピッタリ合わせたご提案が可能です。

デバッグ支援機能
今までライン投入後のデバッグに費やした時間は計り知れないと思います。
Focus-250ではデバッグをより容易に、また、より正確な測定を行う為に、自動ガーディングピン設定などの様々なデバッグ支援機能があります。

検査速度の向上
パソコンから測定系統を直接制御する為信号処理に必要な時間を削除する事ができました。 また、ショート・オープンテスト時に一括ピン選択処理が大幅に改善され、トータルで当社比1.5倍の検査速度向上になりました。

基本情報プレスなしインサーキットテスター  Focus-250

【特徴】
○簡単操作
ON・OFFの切り替えを繰り返す、MPX部のスイッチに寿命を持たない半導体スイッチを用いることによりメインテナンスコストを意識させません。 又、静電気等をためない為、被測定基板にストレスを与えません。
○超コンパクトサイズ
OSにWindowsを使用している為、操作が他のWindowsアプリケーションと同様である為、新たな操作方法を特別覚える必要がありません。 また、パスワードにより使用できる機能を制限できる為、重要な検査データや設定の変更を防止できます。
○テスコン完全互換
テスコン製Point-55シリーズと完全互換があります。
今までお使いになられていたフィクスチャーはもちろん、テストプログラムをそのままご使用頂けます。

●その他機能や詳細については、お問い合わせください。

価格情報 -
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
○検査機器

●その他機能や詳細については、お問い合わせください。

取扱企業プレスなしインサーキットテスター  Focus-250

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協立テストシステム株式会社

半導体基板検査機器の開発・製造・販売・メンテナンス

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