エーエルティー株式会社 ＭＥＭＳ　スキャナ計測システム　ＡＬＴ-9Ａ44

基本情報ＭＥＭＳ　スキャナ計測システム　ＡＬＴ-9Ａ44

ＭＥＭＳ光学スキャナの光学電気特性を測定する
『ＭＥＭＳスキャナ計測システム　ＡＴＬ-9A44』のご案内です。

【特長】
・ＭＥＭＳ光学スキャナの光学・電気特性を測定

・レゾナントタイプの共振特性やドリフトも測定可能

・最大振り角計測には新方式の時間計測方式で検査タクトの短縮化

・インターフェースは電磁駆動方式、静電駆動方式、ピエゾ方式のいずれも可能

・コンパクト設計でインライン検査に最適


※その他機能や詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。

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カタログＭＥＭＳ　スキャナ計測システム　ＡＬＴ-9Ａ44

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  ＭＥＭＳスキャナ計測システム　ＡＬＴ−9Ａ44

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取扱企業ＭＥＭＳ　スキャナ計測システム　ＡＬＴ-9Ａ44

エーエルティー株式会社

電子計測機器、光学計測機器およびその周辺機器のハードウエア、ソフトウエアの開発、製作ならびに販売 全号に関連する技術ノウハウ、工業所有権の販売上記各号に付帯または関連する一切の業務 半導体レーザを使用した光学応用機器の設計開発及び製造、販売。 １．レーザライン光源 　１）計測・画像処理用のデガウス・テレセントリック光学系を 　　　採用したレーザライン光源 　２）ガウシャン分布の汎用ライン光源 ２．レーザコリメーション光源 ３．レーザスキャン光源 ４．レーザスキャン計測システム 　　　レーザプリンタ、複写機用ＬＳＵ及び関連機器の 　　　計測検査システム　　　 ５．光学応用機器の光学設計、解析シミュレーションの受託 ６．レーザダイオード、レンズ、ドライバ基板、高速ＴＩＡ基板、 　　高速ＡＤ変換基板等関連部材の販売

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