テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社セミナー資料【超高速インタフェース、計測の課題と解決法】

最終更新日：2013-08-06 14:03:41.0
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超高速インタフェース、計測の課題と解決法～ USB3.0, PCI Express Gen3, SATA Gen3～

最も良い測定装置・測定方法・修理・メンテナンス・アップグレード・
購入計画をユーザーと一緒になって考え提案しているレクロイジャパン社のET-WEST2009セミナー資料【超高速インタフェース、計測の課題と解決法】のご案内です。

組み込み総合技術展　AD-1発表資料

6月5日に大阪で開催された組み込み総合技術展のアナログ・トラックAD-1で弊社
プロダクト・マーケティング・マネージャが発表したセミナー資料です。

USB3.0、SerialATA3.0、PCI Express Gen3など最新の
シリアル・インタフェース規格の動向と、
計測器に求められる解析機能などを解説しています。