パルスIーL特性試験装置　MODEL：SEC-PL4000 システム技研

レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定！

本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。
CWでは得る事のできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られたデータは、Windows上で表示されデータ処理されます。
LDヘッドには5.6Φ用及び3.3Φ用LDソケット4chが装備されていますので、測定するLDタイプ（5.6Φ又は3.3Φ）の素子に適合するソケットにLD素子を装着します。ソフトウエアの測定条件により、LDドライブ，PD受光信号をRF SWの操作で自動選択し、計測します。

関連リンク - http://www.systemg.co.jp/PL4000.htm

基本情報パルスIーL特性試験装置　MODEL：SEC-PL4000

価格情報	-
納期	~ 1ヶ月
型番・ブランド名	パルスIーL特性試験装置　MODEL：SEC-PL4000
用途／実績例	本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。

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取扱企業パルスIーL特性試験装置　MODEL：SEC-PL4000

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当社は、計測と制御をテーマに当社オリジナル商品から、システム装置及び構成までお受けしております。主商品としては、半導体レーザードライバー、ペルチェ温度コントローラ、各種計測器、治具等を単体、又はシステムとしてご提供しております。当社の中心技術は、電子機器の設計・製造を基本とし、アナログ・デジタル技術をベースに情報伝送技術、ロボットサーボモーター制御、A/D、D/A及びRF技術、そして温度制御技術に強みを発揮しており、光通信業界において発光レーザー素子及び受光素子の評価用電源や、試験検査装置の開発・設計を得意技術として確立してきております。