• アルバック・ファイ株式会社 企業イメージ

    卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス体制で様々なご要望にお応え…

    アルバック・ファイ株式会社は、表面分析装置 「X線光電子分光分析装置 (XPS)」、「二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS,D-SIMS)」、 「走査型オージェ電子分光分析装置(AES)」の取扱メーカーとして、 先進的な表面分析装置をご提供いたします。 品質管理から研究開発などのあらゆる場面で、お客様のご意見を しっかりと受け止め、卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス …(つづきを見る

    • 試験・分析・測定/神奈川県 茅ヶ崎市

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