熱中対策ウォッチ カナリア Plus

PR深部体温の上昇を検知し知らせることで、熱中症を未然に防ぐウェアラブルデ…

暑熱下のリスクを検知して、熱中症になる前にアラームとLEDとバイブレーションでお知らせする ウェアラブルデバイスです。 通信・充電不要、使い捨てによる使いやすさに非常に好評をいただいております。 新モデル「熱中対策ウォッチ カナリアPlus」は旧モデル「熱中対策ウォッチ カナリア」からお客様からの声を反映した新モデルとなります。 主な変更点 ・バイブレーション機能の追加 ・3~4...

メーカー・取り扱い企業： Biodata Bank株式会社

メンブレンタイプフィルター『アンドロメダシリーズ』

PR非対称構造で高流量・低圧損・長寿命！超純水製造にも！非対称構造のポリエ…

『アンドロメダシリーズ』は、 非対称構造のポリエーテルサルフォンメンブレンフィルターです。 非対称構造のため空隙率が高く、高流量・低圧損・ロングライフを実現。 流出物が少なく、少量のリンスアップで非抵抗値が回復します。 超純水製造アプリケーションや、プロセス水の無菌化に適しています。 また、スチーム滅菌対応タイプもラインアップしています。 【特長】 ■高流量 ■低圧損 ...

メーカー・取り扱い企業： ワイエスフィルタージャパン株式会社

キャリア『シリコンキャリア』

高平坦度・高位置精度のキャリア

『シリコンキャリア』は、半導体製造装置を改造せずに、 小口径ウエハや異形ウエハ等を搭載して搬送、そのまま大気中、 または真空中でのプロセスを可能とする高精度キャリアです。 ２～１２インチシリコンウ...

メーカー・取り扱い企業： Carrier Integration株式会社

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

シリコンブロック内部異物検査装置

シリコンブロック内部異物検査装置

ワイヤーソー等でシリコンブロックをスライスする際に、事前にIRB-30にて内部異物箇所を検査し、対応して頂くことによって、ワイヤーソーのダメージ、断線を抑えることが可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

Druck 半導体アプリケーション用圧力センサ

半導体製造装置の流量制御に必要な高精度の圧力センサ各種。モジュールのカ…

の激しい環境でも精度の高い圧力センシングが可能です。VCR継手に対応。 ■UNIK5000:　汎用性の高いアナログ圧力センサ。VCR継手に対応。 ■TERPSシリーズ:　ドラックトップクラスのシリコン・ピエゾ方式を採用した高性能圧力センサ。大気圧測定にも好適。VCR継手に対応。 ■DPS5000シリーズ：デジタル圧力センサ。 ■モジュール機能：お客様のご要望に合わせて、モジュールをカス...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

分極装置（実験用）

圧電素子の分極を行う為の実験用分極装置をご紹介！

『分極装置（実験用）』は、圧電素子の分極を行う為の装置です。 シリコンオイル中にてデバイスに高電圧を印加し、分極を行います。 また、シリコンオイルは付属のサーモメイトにて加熱します。 【特長】 ■シリコンオイル中にてデバイスに高電圧を印加し、分極を行う ...

メーカー・取り扱い企業： リードテクノ株式会社

PN判定器

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます。 非接触／非破壊にてＰ／Ｎ判定ができる持ち運びにも便利なペンタイプの判定器です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

傷や異物の寸法計測も可能！シリコンチップの内部観察に適しています！

高解像度赤外線ＣＭＯＳカメラとエンハンサソフトウェアにより各種 シリコンデバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！ ～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物...

メーカー・取り扱い企業： ディスク・テック株式会社 本社

卓上AFM

電磁スキャナー式（特許取得済み） ダメージレスで非破壊で測定可能 …

　　非線形クリープ、経年変化はありません 　・ダメージレスで非破壊で測定可能 　・AFM用カーボンナノプローブ（高分解能・長寿命） 【ソフトアプリケーション】 　・微細線幅測定 　・シリコン、化合物ウエハ表面形状測定 　・石英ガラス表面検査 　・マスクパターン測定 　・研磨、CMP後の表面検査評価 　・薄膜段差測定、成膜時の連続、不連続測定 　・ハードディスクの磁気フィール...

メーカー・取り扱い企業： ブルーオーシャンテクノロジー株式会社

秩父電子株式会社　事業紹介

半導体研磨加工の匠集団

秩父電子株式会社は、半導体フォトマスク基板用合成石英ガラス、 GaP・GaAs等の化合物半導体、MEMS、SiC（シリコンカーバイド） サファイア、GaN(窒化ガリウム）、Siウェハーの研磨加工を軸に エピ成長、金属膜蒸着等半導体材料の加工を幅広く行っている技術集団です。 屈指の研磨技術で高硬度素材・高精度...

メーカー・取り扱い企業： 秩父電子株式会社

ライフタイム測定装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

比抵抗測定器

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…

比抵抗測定器 RT-1000は、ベストセラー機 RT-1000の後継機種となり、渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定いたします。(測定範囲: 0.001〜100 Ωcm)...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

オプション：オートステージシャッター） ●ユーザーフレンドリー性の高いパソコン+専用ソフトウェアでの操作システム ●測定パターンプログラマブルのため、円型・角型測定可能 ●セルフテスト機能、シリコンウエハ測定用厚さ・周辺位置・温度補正機能 ●シート抵抗・メタル膜厚表示可能 ●円型：最大1,225点、角型：最大1,000点の2-Ｄ/3-Ｄマッピングソフトウェア（オプション） ●対象ウ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

シリコンウェーハ 「熱電対付きシリコンウェーハ」

ウェーハ温度分布計測に必要不可欠なツール

【特徴】 ○半導体製造装置の開発・プロセス条件出しや温度分布計測に必要不可欠な 　熱電対付きシリコンウェーハを温度計測器専門メーカの安立計器がご提供 ○引張荷重200g以上という高強度な熱接点固定部を実現 ○熱電対の経年変化による精度ズレの影響を最小限に抑えることで再現性を向上 ●詳し...

メーカー・取り扱い企業： 安立計器株式会社

イレイザーディスク（eRaser Disk）

ステージ上のパーティクルをインラインクリーニング　ウェハ型ステージクリ…

テクノロジーはこのような状況を打開するため、半導体製造装置向けのインラインステージクリーニングツールとしてウェハ型ステージクリーナー「イレイザーディスク」（eRaser Disk）を開発しました。シリコンウェハー上に特殊樹脂をコーティングすることでパーティクル除去性能の向上を実現し、ダミーラン時間の削減と装置停止頻度の低減に貢献します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クリエイティブテクノロジー

【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

超高温（300℃）対応圧力センサー

測定媒体温度が-10℃から最高300℃まで対応

【製品特徴】 ・測定媒体温度最高３００℃まで対応（周辺温度：２５０℃） ・オイルレス（シリコンオイル等は一切未使用） ・高耐蝕性（接ガス（液）部：ＳＵＳ３１６Ｌ材／ダイヤフラム部：ハステロイ） ・温度補償回路内蔵 ・真空引き対応可能 ・精度±１％ＦＳ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ピー・ジェイ

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

【面内直線上をスキャン測定可能な、非接触 抵抗率/厚さ測定器】 ◆抵抗率・厚さセンサーを搭載し、１度に２種類の測定データ表示可能なので、太陽電池シリコンウエハの測定に最適 ◆抵抗率・厚さ測定は１点測定の他に、面内直線上を測定し、グラフ表示可能な『スキャン測定モード』を搭載 ◆エアーフローティングステージにより、ウエハ取扱いが容易 ◆測定デー...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

ＰＮ判定器 【PN-12α】

ＰＮ判定器 【PN-12α】

【広範囲な抵抗レンジで測定可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式：熱起電力方式（ホット＆コールドプローブ） ◆ペン型のプローブを当てるだけで判定が可能 ◆ほとんどの試料（シリコンウエハ、バルク、インゴット）に対応 （表面が酸化している試料は判定不可能） ◆温度計、アナログメーターを標準装備 ◆自動ウエハ搬送装置に組込使用が可能（PN-12β） ●対象ウエハサイ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

導電性セラミック

静電気対策、帯電防止など大気環境から真空環境まで実績があります

導電性セラミックを取り扱っております。 アルミナを主成分として静電気対策用から金属並みの伝導性があるものなど バリエーションがあり、使用用途として、チャンバー内の静電気対策や、 帯電したシリコンウエハを搬送するロボットハンドなどがあります。 その他、窒化アルミや、設備の移転からチャンバー部品までお客様の ニーズに合わせて改造も可能な半導体装置部品にも対応。 ご要望の際はお気軽に...

メーカー・取り扱い企業： JTCK株式会社

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-10】

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-10】

◆非接触の渦電流法なのでダメージを与えることなく測定が可能 ◆測定レンジにより、MiddleとHighの組み合わせセンサー交換式（オプションでLowセンサーもお選び頂けます） ◆温度補正機能（シリコンウエハ） ●対象ウエハサイズ：3インチ〜8インチ、または〜140mm角（オプション：2インチまたは12インチ対応、140mm以上の角型基板） （※）その他詳細についてはお問い合わせ下さ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

陥の 検出感度を、従来の手法よりも大幅に向上させています。 【特長】 ■非破壊/非接触 ■従来の検査装置では確認できない欠陥を可視化 ■対象領域：活性デバイス領域（表面近傍） ■生シリコンと活性デバイス深さでの検出 ■専門知識は不要 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ティーイーアイソリューションズ株式会社　事業紹介

インテグレーテッドR&Dファウンドリーとして高度な専門技術を提供します…

対応 ［テストウェハー販売］ ○材料や装置評価に用いるパターン付き、または膜付きのウェハーを提供 ○各種ウェハーサイズの対応が可能 ○新規テストウェハーの開発（新材料・新構造）も対応 ○シリコン基盤以外のウェハーにも対応が可能 ［分析・評価サービス］ ○顕微鏡検査・分光解析など不良解析のための分析サービスを提供 ［コンサルティング事業］ ○コンサルティング ○調査報告 →技術...

メーカー・取り扱い企業： ティーイーアイ ソリューションズ株式会社 つくば研究所

クリスタル光学　鏡面研磨加工技術

材料を問わない鏡面研磨加工をご提供。 単結晶から金属・セラミック・樹…

鏡面の粗さはナノレベル。 ＊光学式表面粗さ測定による実績（一例） ・銅　Ｃｕ（９９．９９％）　０．４ｎｍ ・ステンレス　ＳＵＳ４３０　０．３ｎｍ ・樹脂材　ＰＭＭＰ　３ｎｍ ・単結晶材　シリコン（１００面）　０．４ｎｍ ・光学単結晶材　ＮａＣｌ（１００面）　２．８ｎｍ ○素材を選ばない鏡面研磨 ＊取り扱い材質（実績一例） ●金属 　ステンレス 　アルミニウム 　銅 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クリスタル光学

半導体装置向けAl-SiC金属マトリックス複合材料市場

アルミニウムシリコンカーバイド（AlSiC）は、熱膨張係数（CTE）が…

当社（Global Info Research）の最新調査によると、半導体装置向けAl-SiC金属マトリックス複合材料の世界市場規模は2022年に1600万米ドルと評価され、レビュー期間中にCAGR 5.1％で2029年までに2300万米ドルの再調整規模になると予測されます。COVID-19とロシア・ウクライナ戦争の影響は、市場規模を推定する際に考慮しました。 本レポートは、世界の半導体装置...

メーカー・取り扱い企業： GlobaI Info Research有限会社 Global Info Research

Cobra ATE/SLTアプリケーション温度制御31000R

ハンドラと組み合わせ自由の温度コントロールユニット

Cobraは、市場で最も先進的でコンパクト、かつ強力な温度強制システムです。Cobraは、ポストシリコンやデバイスの特性評価で増え続ける熱に対する要求に適応するソリューションとなります。 40℃から150℃の温度範囲に対応し、機動性、静音性、無液化技術などのあらゆる利点を兼ね備えた、主に手動配置に...

メーカー・取り扱い企業： クロマジャパン株式会社

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

厚さ測定機 (TME-11型)

本機械はφ8”シリコン製ウエハの厚さ測定を行う装置です

Siウェーハの厚さ及びSi段差部の各種測定を非接触、自動測定を行う装置です。...・前機種TME-06型より、操作性と機構等改善を行いました。 機構はシンプル化を行い、操作性はオペレータの利便性を優先項目として改善を行いました。 ・3種類のセンサを設けて多種多様な測定が可能になりました。 ・SECS通信、HSMS通信によるHOST通信に対応しています。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-8800】

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-8800】

【4探針測定器にロボットとアライメントユニットを搭載した全自動システム】 ◆厚さ測定、P/N判定、温度測定に対応可能（シリコンウエハ） ◆セルフテスト機能、校正機能、広範囲測定レンジ ◆厚さ・周辺位置・温度補正機能（抵抗率測定時） ◆シート抵抗・膜厚表示が可能（メタル膜測定時） ◆カセット数はご要望により、いくつ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

ＰＮ判定器 【ＰＮ-50α】

ＰＮ判定器 【ＰＮ-50α】

【センサーに近づけるだけで瞬時に判定可能な非接触ＰＮ判定器】 ◆判定方式：光パルス照射による光起電力方式 ◆非接触方式のため、シリコンウエハにダメージを与えません ◆表面に酸化膜のあるウエハも判定可能 ◆光パルス照射のため、瞬時に判定可能 ◆ＰＮ判定可能な抵抗率範囲：0.1〜1,000Ω/cm 　　　　（ただし、ウエハの...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

ＰＮ判定器 【ＰＮ-1Ｓ】

ＰＮ判定器 【ＰＮ-1Ｓ】

【スピーディーな測定が可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式：整流電力方式 ◆ほとんどの試料（シリコンウエハ、バルク、インゴット）に対応 （表面が酸化している試料は判定不可能） ◆測定ステージに載せ、0.2mmの細い2本の探針部に軽く接触させるだけで、瞬時に測定が可能 ◆自動ウエハ搬送装置に...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触ウエハソーティングシステム【NC-3000R】

非接触ウエハソーティングシステム【NC-3000R】

【ロボット搬送による非接触ウエハソーティングシステム】 ◆シリコンウエハの抵抗・厚さ・P/Nタイプを非接触センサーで測定 ◆標準カセット数：7（ローダー/アンローダー合計、各カセット数は任意に設定可能） ●対象ウエハサイズ：12インチ（または、6インチ＆...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社