• 8×8画素赤外線アレイセンサモジュール「SMH-01B02」 製品画像

    8×8画素赤外線アレイセンサモジュール「SMH-01B02」

    PR「SMH-01B02」のサンプル出荷を開始!従来製品と比較し 広視野…

    SMH-01B02はSiレンズ光学系と赤外線受光IC、制御用MCUを1つの基板上に実装し小型化した、 8x8画素のサーモパイル型赤外線アレイセンサモジュールです。 本製品は検知視野角を60°としており、当社従来品(SMH-01B01:35°)に比べ より広いエリアの検知を可能としています。 さらに、この特徴を活かすため、人検知アルゴリズムの提供も含めたソリューションの提案も可能であり、...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーNPC株式会社

  • 断熱性・環境に優れた<硬質ポリウレタン成形>※事例紹介資料進呈 製品画像

    断熱性・環境に優れた<硬質ポリウレタン成形>※事例紹介資料進呈

    PR当社が使用している『硬質ポリウレタン』はノンフロン処方で、環境にも配慮…

    当社では、環境調和を図るため、シクロペンタン材料を使用しており オゾン破壊係数がゼロ、地球温暖化係数が極めて低い『ノンフロン処方』の【硬質ポリウレタン】をお客様が求めるスペックに合わせて設計・成形をしております。 硬質ポリウレタンについては、約40年の歴史があり、長い年月の間で 断熱性能/断熱技術を高め、オープン発泡や多段プレス発泡といった 高圧発泡手法を用い、性能面では熱伝導率初期値...

    • 2020-04-23_10h17_41.png
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    メーカー・取り扱い企業: 多田プラスチック工業株式会社

  • ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置 ゼータサイザー ナノ ZSP 製品画像

    ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置 ゼータサイザー ナノ ZSP

    高性能・簡単操作・多用途! ナノ領域の粒子測定に好適なゼータ電位・粒子…

    移動度、ナノ粒子および表面のゼータ電位、さらにオプションでタンパク質およびポリマー溶液のマイクロレオロジーを測定するために使われます。 卓越した性能により、高分子の分子量および第 2 ビリアル係数、ならびに DLS 相互作用パラメータを測定することもできます。 SEC または FFF 用の粒子径ディテクターとして、フロー中で使用することもできます。 ●粒子径測定 ・一次粒子・電...

    メーカー・取り扱い企業: スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部

  • 粒子特性評価装置『3DLSスペクトロメーター』 製品画像

    粒子特性評価装置『3DLSスペクトロメーター』

    多重散乱の効果を低減!サンプルのまま測定することが可能な粒子特性評価装…

    与を省くために、革新的な 3Dクロスコリレーション技術を採用しており、サンプルを希釈する 必要はありません。 サンプル本来の状態のまま、粒径や形状・構造因子、分子量、回転 および並進拡散係数を測定することができます。 【特長】 ■SLSやDLSに基づく粒子特性評価装置 ■サンプルを希釈する必要がない ■サンプル本来の状態のまま測定することが可能 ■多重散乱の効果を低減する...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社 東京本社、大阪営業所

  • 【教育用実験装置】熱伝達実験 製品画像

    【教育用実験装置】熱伝達実験

    空気流動域内における温度境界層を1/100mm間隔でトラバースして …

    内管および内管内を流動する温水(液体)域   計測項目:流量・内管内温水温度・B内管外壁表面温度   計算項目:内管内壁表面温度・レイノルズ数・ヌスセルト数・    水から内管内壁への境膜伝熱係数(熱伝達率) ○内・外管の間の環状部を流動する空気(気体)域   計測項目:流量・入出口温度・温度境界層(1/100mm毎トラバス)・温度勾配   計算項目:レイノルズ数・ヌスセルト数・  ...

    メーカー・取り扱い企業: 東京メータ株式会社

  • 自動エリプソメータ「DHA-FR」 製品画像

    自動エリプソメータ「DHA-FR」

    膜厚測定・屈折率測定・複屈折率測定・反射率測定に最適な測定装置です。

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 自動エリプソメータ「DHA-FR」は、非接触でシリコンウェハ、ガラス、セラミックス、金属などの表面の薄膜の膜厚と屈折率および基板の屈折率...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 画像処理応用装置 フィルム検査装置 製品画像

    画像処理応用装置 フィルム検査装置

    異物、気泡、キズ、その他フィルム上の欠陥、ピンボール、筋ムラ等対応可能

    min可(視野100mm時、視野 約100mm)となっています。検査精度は標準分解能 25μm(7~100μm:検査幅による)、検出可能最小欠陥は分解能の3倍です。欠陥処理はサイズ分別、サイズごとの係数、データ表示を行います。ソフトウェアはスタートボタンにより自動的に検査をスタートし、フィルム上にS、M、Lの欠陥がそれぞれいくつあるかを表します。装置の性能・機能およびユーザーインターフェイス等の仕...

    メーカー・取り扱い企業: ディスク・テック株式会社 本社

  • 輝度色度ユニフォミティ測定器 UA-10 製品画像

    輝度色度ユニフォミティ測定器 UA-10

    ユニフォミティ検査を高速・高精度に実現

    -10は、小型軽量ながら高速・高精度化を実現した面計測器です。 当社独自の校正・補正技術により、標準計測器での測定 結果を忠実にフィードバックすることで、従来の面計測器で必要とした色ごとの色補正係数の切替えを省略しながら、高い色度測定精度が実現できます。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トプコンテクノハウス

  • MFU 200 Aspheric 3D 輪郭・形状測定機 製品画像

    MFU 200 Aspheric 3D 輪郭・形状測定機

    光学部品を生産現場で素早く2D / 3D測定!

    PV、および傾斜誤差がパラメータとして表示されます。 ソフトウェアでは、ノミナル非球面レンズを適合非球面レンズにあわせて調整する際に、非球面の個々のパラメータ(曲率半径 R0、円錐定数 k、非球面係数 Aiなど)を測定結果に合わせて調整できます。 測定値とノミナルレンズ間のトポグラフィーの差異は、色分けされた折れ線グラフで表示されます。 2D プロファイルおよびトポグラフィの差分は、工作機械...

    メーカー・取り扱い企業: マール・ジャパン株式会社

  • 分光楕円偏光解析装置 分光エリプソメータMASS-105 製品画像

    分光楕円偏光解析装置 分光エリプソメータMASS-105

    多層膜など多くのパラメーターが一度に解析!小型・高速分光エリプソメータ

    分光エリプソメータMASS-105は白色光を用いたエリプソメータです。レザータイプに比べ、多層膜などの多くのパラメーター(膜厚、屈折率、吸収係数)が一度に解析できます。分光器には、2048分割のCCDタイプを用いるなど、性能・機能はパワフルなものとなっています。また、分光解析ソフト“SCOUT”を標準装備し、ファイブラボ株式会社の解析ソフト...

    メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社

  • 自動エリプソメータ ソフトウェア【Windows上で動作】 製品画像

    自動エリプソメータ ソフトウェア【Windows上で動作】

    基板表面およびその上の薄膜の光学定数(屈折率・吸収係数)を測定する自動…

    Windows上で動作します。 測定条件、膜構造ファイルを登録し、再利用可能です。 表計算ライクにシート毎の測定条件設定も可能です。 マトリクス測定データを2D(等高線)3D(鳥瞰)に表示します。 旧DOS版の測定ソフトで測定、保存したデータも表示できます。 下記環境が推奨です。 【PC】OS Windows98/2000/XP、Pentium400MHz以上(又は互換タイプ)、RAM...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 自動エリプソメータ DCAシリーズ【非接触で高精度測定】 製品画像

    自動エリプソメータ DCAシリーズ【非接触で高精度測定】

    成膜装置に取付、In-situ測定を行います。 測定方式は、回転検光子…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干渉計による測定が最適です。 試料...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 自動エリプソメータ オプション【裏面反射除去装置ほか】 製品画像

    自動エリプソメータ オプション【裏面反射除去装置ほか】

    裏面反射除去装置、マイクロスポット、遮光カバー、除振台など測定対象に応…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 非接触で高精度測定を行います。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 高精度透過波面収差装置 製品画像

    高精度透過波面収差装置

    高速・高精度にて透過波面を評価できます。

    【特徴】 ○収差補正された良好な結像光学系から収差の大きな単レンズまでも高速・高精度にて透過波面を評価できます。 【各種解析が可能】 ○ザイデル ○収差係数 ○ゼルニケ多項式 ○2D/3DWaveFront ○-Fringe ○-Phase ○Comparison ○リアルタイム-チルト ○-ディフォーカス調整 ●詳しくはお問い合わ...

    メーカー・取り扱い企業: トライオプティクス・ジャパン株式会社

  • 自動エリプソメータDVAシリーズ【試料垂直置き、入射角手動可変】 製品画像

    自動エリプソメータDVAシリーズ【試料垂直置き、入射角手動可変】

    試料垂直置き、入射角手動可変の小型エリプソメータ。 測定方式は、回転検…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干渉計による測定が最適です。 試料...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • エリプソメータ 製品画像

    エリプソメータ

    薄膜の厚さ、屈折率を短時間で測定。非接触で高精度な測定が可能。

    物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 非接触で高精度測定を行います。 測定対象に応じ多様な機種、オプションを準備しております。 また、パソコン、測定用ソフト、制御装置は標...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 粒子径・ゼータ電位測定装置 ゼータサイザー Pro・Ultra 製品画像

    粒子径・ゼータ電位測定装置 ゼータサイザー Pro・Ultra

    高性能・簡単操作・多用途!ナノ領域の粒子測定に適した装置【圧倒的な論文…

    移動度、ナノ粒子および表面のゼータ電位、さらにオプションでタンパク質およびポリマー溶液のマイクロレオロジーを測定するために使われます。 卓越した性能により、高分子の分子量および第 2 ビリアル係数、ならびに DLS 相互作用パラメータを測定することもできます。SEC または FFF 用の粒子径ディテクターとして、フロー中で使用することもできます。 【ゼータサイザーPro】 ・高塩濃度...

    メーカー・取り扱い企業: スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部

  • 自動エリプソメータ DHA-OLXシリーズ【入射角ステップ可変】 製品画像

    自動エリプソメータ DHA-OLXシリーズ【入射角ステップ可変】

    試料水平置き、入射角ステップ可変の小型エリプソメータ。 測定方式は、回…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干渉計による測定が最適です。 ※詳...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 自動エリプソメータDVAシリーズ【試料垂直置き、入射角手動可変】 製品画像

    自動エリプソメータDVAシリーズ【試料垂直置き、入射角手動可変】

    試料垂直置き、入射角手動可変の小型エリプソメータ。 測定方式は、回転検…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干渉計による測定が最適です。 試料...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 自動エリプソメータDHA-FXシリーズ【水平置き入射角手動可変】 製品画像

    自動エリプソメータDHA-FXシリーズ【水平置き入射角手動可変】

    試料水平置き、入射角手動可変の小型エリプソメータ。 測定方式は、回転検…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干渉計による測定が最適です。 試料...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 自動エリプソメータDHA-XAシリーズ【水平置き入射角自動可変】 製品画像

    自動エリプソメータDHA-XAシリーズ【水平置き入射角自動可変】

    試料水平置き、入射角自動可変の小型エリプソメータ。 測定方式は、回転検…

    エリプソメータとは物質表面に偏光を入射しその反射光の偏光状態を測定して物質の光学定数(屈折率・吸収係数)および表面上の薄膜の厚みと屈折率を算出するシステムです。 なお、エリプソメータの膜厚測定範囲は数Å~数μmです。 μmオーダーの比較的厚めな膜の場合は、白色干渉計による測定が最適です。 試料...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • 薄膜測定システム 製品画像

    薄膜測定システム

    分光放射照度測定をはじめ、多様なアプリケーションにお応え致します

    ■ 物質、屈折率、消衰係数を入力するだけで、簡単に膜厚測定が可能 ■ 膜厚範囲:10nm〜 ■ 真空チャンバー中でのモニタリングも可能 ■ 測定項目の径時変化測定により、コーティング過程モニタリングが可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ

  • 分光エリプソメータ SE-2000  製品画像

    分光エリプソメータ SE-2000

    転偏光子型と回転補償子型の光学系構成が選択でき、高精度で測定が可能

    分光エリプソメトリーでは、全波長領域における測定データ(Δ,ψ)に対して適当な光学モデルを適用し解析を行います。解析の結果として、各層の膜厚、屈折率、消衰係数が得られます。膜厚はサブ・ナノメートルから測定が可能で、再現性にも優れています。一般的な膜厚計とは異なり、非接触・非破壊で各層の膜厚と光学特定の解析が高精度で行えますので、多層薄膜や材料の光学特性の...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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