IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス（MSTではAr）が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分（Ni,P）は検出下限以下でした。...（つづきを見る）

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...（つづきを見る）

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができま...（つづきを見る）

FIB：集束イオンビーム加工

FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン（加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメー...（つづきを見る）

切削加工の問題解決に貢献する受託試験！試験片レベルから実機サイズまで対…

『切削加工の受託試験』では、科学的なアプローチにより切削過程と 被切削材の特性を分析します。 加工時間の短縮をはじめ、工具寿命の延長や切屑処理性の改善に貢献。 試験片レベルから実機サイズまで対応...（つづきを見る）

やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

ことで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料（生体試料・高分子材料など）の加工に有効で、ゲル状材料なども冷却することにより加工できる場合がある...（つづきを見る）

基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

、試料表面の凹凸、イオン照射により表面側に存在する原子が奥側に押し込まれるノックオン効果やクレーター底面粗れ等の現象により、急峻な元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側（裏面側）からSIMS分析を行うのがSSDP法（Back-Side SIMS法）です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることなく、より正確な元素分布評価が可能にな...（つづきを見る）

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域（数nm～数十μm）のエッチングによる任意形状加工が可能 （通常加工サイズ：～20μm程度） ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製（特定箇所の...（つづきを見る）

粉砕・乾燥・加熱・冷却・混合・造粒・表面改質等各機種による実験が可能で…

全ての装置・技術に対して実験対応しています。実験をご希望の際はお気軽にお問い合わせ下さい。また、受託加工もお受けしています。...（つづきを見る）

構造を維持したまま水分・油分の分散状態を観察

エマルションは、水溶成分と脂溶成分を乳化剤の作用により分離なく混合した分散系であり、種々のエマルション技術が加工食品に広く利用されています。マヨネーズはその中でもO/W型（水中油滴型）の代表的な加工食品です。クライオFIB-SEM観察による評価を行った結果、水分・油・乳化剤などの分布を可視化することができまし...（つづきを見る）

超臨界二酸化炭素試験装置による抽出試験を実施！

株式会社アイテックでは、マルチユースCO₂試験機を用いた、 無水・無溶剤抽出試験などの受託試験を行っています。 健康食品、医薬品、香料等の有効成分を原材料から 超臨界二酸化炭素を用い、抽出する技術で 二酸化炭素は気化するため乾燥工程が不要です。 また、半導体等の洗浄にも用いられます。 当試験は、国公立大学、国立研究機関、食品メーカー、医療品メーカーなど、 その他様々な業種での...（つづきを見る）

ナノ粒子の合成！国立大学をはじめ納入実績多数！

株式会社アイテックでは、超臨界、亜臨界等の高温、高圧水場での様々な受託試験を行っています。 均一かつ微細な金属酸化物ナノ粒子を短時間で合成可能です。 お客様との打ち合わせを綿密に行い、ご希望に沿った試験プランを提案いたします。 試験は大阪の当社研究所内で実施し、お客様の立会いも可能です。 当試験は、国立大学、国立研究機関、化学メーカー、セラミックメーカーなど、 その他様々な業種で...（つづきを見る）

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工（Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像につい...（つづきを見る）

受託計測は、御社の 「精密加工部品の品質保証」 の助っ人です！

す。 お客様のご要望にお応え出来るよう 検査員の増員、検査設備・環境の拡充を行っており、 京都府下最大の品質管理スペース（320平方メートル／精密検査室は一定恒温室）では 月3万点以上の加工部品検査を行う容量がございます。 《ケース２ ： 検査に時間が掛かっている。》 エージェンシーアシストでは！ 短納期にもフットワーク軽く、対応出来る検査体制を整えています。 オー...（つづきを見る）

作物や加工品中のグルコシルセラミド定量分析が可能

保湿効果やアトピー性皮膚炎に対する改善効果があることから、近年注目されている成分です。肌に直接塗布する化粧品だけでなく、グルコシルセラミドを配合したサプリメントなどの健康食品や一般食品、飲料等多くの加工品が販売されています。 HPLCを用いることにより、原料となる作物や加工食品に含まれるグルコシルセラミドの量を高精度に分析することが可能です。ここではこんにゃくの分析事例を紹介します。...（つづきを見る）

加工を併用することで界面の元素分析が可能

AES分析は最表面（～深さ数nm）の組成情報や元素分布を得る手法ですが、断面加工を併用することで、層構造内や構造界面でも同様の情報を得ることができます。合金層や元素拡散・偏析等の評価が可能であるため、デバイスの故障解析や不具合調査等に有効です。 以下にワイヤボンディングの接合...（つづきを見る）

N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止

有機EL素子は大気中で劣化しやすいため、N2雰囲気下での加工が必要となります。有機EL素子について、切削加工をN2雰囲気中で行い、30分大気に放置したものと、大気に暴露しないものについてAlq3の測定結果を示します。大気に放置すると、Alq3に酸素がついたピ...（つづきを見る）

雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 TEM： 透過電子顕微…

大気に暴露すると変質してしまうリチウムイオン二次電池材料や、加工・観察時の熱で変質する有機系材料等の試料は、通常の環境下でTEMを用いて構造を観察することは困難です。 弊団では雰囲気制御によって大気暴露を抑え、更に冷却して加工・観察・分析を行うシステムを整備し...（つづきを見る）

雰囲気制御イオン研磨（IP）加工を用いた断面観察が可能

リチウムイオン二次電池の電極は、容量等電池の性能や信頼性を大きく左右する非常に大きな構成材料です。充放電サイクル試験後の電極材料を雰囲気制御下でイオン研磨（IP)加工を行うことで、大気暴露による劣化を抑えて正確に観察することができます。 今回、充放電後のリチウムイオン二次電池の正極材料に関して、雰囲気制御効果をIP加工後のSEM観察結果を比較することで検証した...（つづきを見る）

試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

樹脂中に存在する有機系の異物を評価する際、試料や分析の条件によってはそのままの状態での評価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。 エポキシ系樹脂中に混入した数10μmの異物を断面加工により露出後、TOF-SIMSで評価しました。異物成分の同定と、...（つづきを見る）

加工無しで30nmサイズの組成分析が可能

ら数nm深さまでの組成情報を得る手法であり、製造工程において表面に生じた汚染や異物の組成を調べる際に有効な分析です。基板などの母材の情報を検出することが少ないため、異物など異常箇所のみの情報を前処理加工などを行わず簡便に調べることが可能です。また面分析を行うことで元素分布像を得ることができます。 本事例ではSiウエハ上に存在する異物について、AES分析を用いて評価したデータをご紹介します。...（つづきを見る）

FIB加工技術を応用し、エナメル質／接着材界面の全景を観察

るため接着材が用いられます。接着材には歯との強固な接着力と、治療後長期にわたって口腔内に発生する酸や熱などに耐久していく性能が求められており、接着界面の観察は評価･検討のための有効な手段です。FIB加工技術を使用した作製法を用いることにより、従来のダイアモンドナイフを用いた超薄切片では得られなかった有効な成果を得ることができましたので紹介します。...（つづきを見る）

凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

としても広く用いられるようになりました。光の取り出し効率を高めるため、取り出し面に凹凸を設けることがありますが、この凹凸が深さ方向分析における深さ分解能の劣化を招きます。 テクスチャ凹凸面に平坦化加工を施すことにより深さ分解能の劣化を抑えて深さ方向濃度分布を評価した事例と、バックサイド(基板側)から分析を行った事例をご紹介します。...（つづきを見る）

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

近赤外VCSEL（面発光レーザー）の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測...（つづきを見る）

雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 SEM： 走査電子顕微…

大気に暴露すると変質してしまうリチウムイオン二次電池材料や、加工・観察時の熱で変質する有機系材料等の試料は、TEM・SEMを用いて本来の構造を観察することが困難でした。 大気暴露することなく（雰囲気制御）FIB付き高分解能SEM装置で観察することで、粒子や電解...（つづきを見る）

クライオ加工冷却SEM： 走査電子顕微鏡法

料の構造を観察するには、試料本来の構造を維持した状態で一連の分析をする必要があります。クライオSEMでは、試料を急速凍結して割断面を作製することで、試料構造を観察することができます。 さらにFIB加工による断面作製技術を組み合わせることで、より詳細な内部構造の情報を得ることが可能です。...（つづきを見る）

雰囲気制御下での測定面出し加工により成分の変質を抑制

有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、雰囲気制御下で測定面を出すことで加工による変質を抑えて、成分の定性分析を行いました。...（つづきを見る）

FIB：集束イオンビーム加工

試料から直接小片を取り出し（マイクロサンプリング）、FIB加工を行うことができます。...（つづきを見る）

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 １）FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。 ２）2つの二次電子検出器（In-Lens/チャンバーSE）により試料から様々な情報が得られます。 ３）加工用FIBと観察用低加速SEM...（つづきを見る）

眼球の加工と薬剤成分の可視化（イメージング）が可能です

投与薬剤が生体内でどのように分布しているかを知ることは、薬剤開発のうえで重要な情報となります。 本事例では魚類の眼球硝子体内に薬剤を直接投与し、眼球断面で薬剤成分の分布を評価しました。 結果、薬剤を投与した付近から薬剤成分が強く検出され、眼内に分布している様子が得られました。 質量顕微鏡であるTOF-SIMSを用いることにより、眼球をはじめとした様々な生体器官の薬物動態への応用が可能です。....（つづきを見る）

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

XPSで4層の異なる有機化合物(或いは有機金属錯体)で形成されていると推定された有機EL素子（図1）について、TOF-SIMS分析を行いました。多層構造試料についてはスパッタを併用した深さ方向分析も行われますが、今回は構成成分の結合を壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3, NPD, CuPcと推定される分子量関連イオン・フラグメントイオンが得られ、Slope...（つづきを見る）

雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、通電により輝度が劣化したものと非通電のものの比較を行いました。 その結果、TOF-SIMSのスペトルにはサンプル間で差は見られませんでした。...詳しいデータはカタログをご覧ください...（つづきを見る）

機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。...■基板接合部機械研磨 　＋化学エッチング 　＋イオンミリング 　光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成 　SEMによる観察...（つづきを見る）

SIM像3D再構築解析の受託スタート！※材料開発や半導体、基板のトラブ…

ＦＩＢ加工観察装置によるＳＩＭ像の３Ｄ再構築解析の受託を始めました！！ 材料開発や半導体、基板のトラブル原因解明など、様々な分野で、お役にたちます！！ 【特長】 ■逐次加工・観察で再構築データを作成...（つづきを見る）

思い描いた理想の商品を実現させるのは…ケミカルクリエイターの大成化工で…

式会社は、昭和58年千葉県成田市に塗料・インキ・コーティング材の設計開発製造の拠点として操業。 大成化工グループ内にはアクリル樹脂を代表とする製造技術を保有し、様々な分野でのお客様の要望する分散・加工中間体を提供しています。 研究段階の試作レベルから少量製造にも対応、電子分野向け特殊加工品のご依頼も多くいただいております。 また危険物第5類の自己反応物であるニトロセルロース（硝化綿）の加工や...（つづきを見る）

メッキや薄膜、多層膜の分析を多彩な手法で適切に実施致します。

主に断面研磨、イオンミリング（CP加工）、EDX、WDX、XRFの4つの手法から、メッキや薄膜などの観察・分析を実施致します。 無機物・有機物問わず、硬い膜や多層膜まで幅広くご対応しております。...（つづきを見る）

製品開発に欠かせない分析の情報をまとめた1冊です

析をご検討される際に必須の情報を網羅した1冊です。 Ver.8では新たに分析手法「軟X線発光分光法 SXES」「走査型非線形誘電率顕微鏡法 SNDM」「X線CT法」「超音波顕微鏡法 C-SAM」、加工法「レーザー加工」を掲載。また、各手法の掲載内容を最新の情報に更新しました。 お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。 【ご希望者全員に無料プレゼント】 お問い合わせ...（つづきを見る）

サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価

電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃程度、PPでは155℃程度となります。軟化点の低いPP製のセパレータ構造観察において、試料の冷却を行って変質を抑えて評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧くださ...（つづきを見る）

迅速・正確・多面的・総合的！　幅広いニーズにお応えします。

あらゆる特性の測定・分析・評価ニーズに対応いたします。最新装置と熟練者による精度・再現性の高い測定が可能です。専門家による的確な分析評価・解析、詳細な分析技術相談も承ります。形態解析には「特殊な試料加工」、「形態観察」、「微細構造解析」など、物性評価には「比表面積（BET法）/細孔分布」、「粒子径分布」、「粒子形状」、「水分値」、「真密度」、「流動性・噴流性」、「付着性・凝集性」、「濡れ性・接触角...（つづきを見る）

短納期・低コスト・小ロット

金型を造らず、三次元データがあれば 加工開始が可能な為短納期を実現します。 また、複雑な形状ほど コストメリットが高くなります。 異種部品の同時造形・複数個部品作成が可能です。 加工できない形状が安易に作成可能であり、小ロットの生...（つづきを見る）

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

顕微鏡法 SCM　走査型静電容量顕微鏡法 SSRM　走査型広がり抵抗顕微鏡法 ○その他の測定法 白色干渉計測法 TG-DTA-MS,DSC　熱分析 EMS　エミッション顕微鏡法 『加工法・処理法』 ○FIB法 集束イオンビーム加工 ○SSDP用加工 基板側からの測定用加工 ほか その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...（つづきを見る）

60年以上培った信頼の“めっき技術”！お客様の声にお応えするニシハラ理…

Process Support Engineering」として、製品の企画から開発、製造、組み立てに至るまで、高付加価値を実現できるご提案をさせていただいております。 【事業内容】 ■めっき加工 　・樹脂材へのめっき 　・アルミ材へのめっき 　・フレージョン（高精度部分めっき）など ■めっき液の分析及び、めっき皮膜の特性の解析 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わ...（つづきを見る）

クレームや工程トラブルに対し付着物、混入異物等の分析を行っております。

成分分析とは、製品における様々なクレームや工程トラブルに対し、高精度解析装置を導入し、製品トラブルの原因解析、品質管理のための分析など、テクノリサーチ業務を行っております。製品の付着物の分析や加工食品中の混入異物の分析、製品中の異物の分析などといった、付着物、混入異物、変色、錆などの分析を行っております。詳しくはお問い合わせください。...（つづきを見る）

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析 　形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験 　信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析 　物理解析・表面分析・化学分析...（つづきを見る）