• 『プレス加工工程のモニタリングソリューション』 製品画像

    『プレス加工工程のモニタリングソリューション』

    PR設備の稼働率向上や不良率の低下に。EV用部品のプレス加工監視に関する無…

    当社では、「BRANKAMPモニタリングシステム」による 『プレス加工工程のモニタリングソリューション』を提供しています。 目的に応じてセンサーの種類や個数、取り付け位置を決定。 順送加工、トランスファー加工、高速スタンピング加工など様々な工程に対応可能です。 機械・金型への過負荷、金型の温度上昇・摩耗・破損などを検出でき、 設備稼働率の向上および不良率の低下に貢献します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: マーポス株式会社

  • BIMロボットレーザー加工システム 製品画像

    BIMロボットレーザー加工システム

    PR超高速・精確・広範囲なレーザー加工!最大出力4kWのハイパワーで自在に…

    『BIMロボットレーザー加工システム』は、ロボットアーム内部を レーザービームが通るため、ファイバーの引き回しがなく、自由な動きで 狭い部分も切断可能です。 軽量なヘッドによる高速で正確な動作と、メンテナンスの大幅な削減を実現。 複数台のロボットを使用すれば、従来のガントリータイプに比べ、 設置スペースを約1/3に縮小することができます。 ーーーーーーーーーーーーーーーーー...

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    メーカー・取り扱い企業: スターテクノ株式会社

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常加工サイズ:~20μm程度) ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製(特定箇所の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • クライオ加工 製品画像

    クライオ加工

    やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

    ことで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料(生体試料・高分子材料など)の加工に有効で、ゲル状材料なども冷却することにより加工できる場合がある...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    顕微鏡法 SCM 走査型静電容量顕微鏡法 SSRM 走査型広がり抵抗顕微鏡法 ○その他の測定法 白色干渉計測法 TG-DTA-MS,DSC 熱分析 EMS エミッション顕微鏡法 『加工法・処理法』 ○FIB法 集束イオンビーム加工 ○SSDP用加工 基板側からの測定用加工 ほか その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分(Ni,P)は検出下限以下でした。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 受託成膜・受託分析 製品画像

    受託成膜・受託分析

    各種成膜・表面処理・塗布加工や、受託測定のことなら当社へお任せください

    アイゲート株式会社は『受託成膜・受託分析』を承っております。 「受託成膜」では、Si、ガラス、フィルムなどの真空成膜加工が可能なほか、 エッチングや表面処理、塗布加工にも対応。 また「受託分析」では、高性能水蒸気・ガス透過率測定装置を使用した 受託測定を致します。 【受託分析詳細】 <水蒸気・ガス透...

    メーカー・取り扱い企業: アイゲート株式会社 本社

  • SIM像 3D再構築解析受託サービス 製品画像

    SIM像 3D再構築解析受託サービス

    SIM像3D再構築解析の受託スタート!※材料開発や半導体、基板のトラブ…

    FIB加工観察装置によるSIM像の3D再構築解析の受託を始めました!! 材料開発や半導体、基板のトラブル原因解明など、様々な分野で、お役にたちます!! 【特長】 ■逐次加工・観察で再構築データを作成...

    メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社

  • ケミカルクリエイターの大成化工株式会社 事業紹介 製品画像

    ケミカルクリエイターの大成化工株式会社 事業紹介

    思い描いた理想の商品を実現させるのは…ケミカルクリエイターの大成化工で…

    式会社は、昭和58年千葉県成田市に塗料・インキ・コーティング材の設計開発製造の拠点として操業。 大成化工グループ内にはアクリル樹脂を代表とする製造技術を保有し、様々な分野でのお客様の要望する分散・加工中間体を提供しています。 研究段階の試作レベルから少量製造にも対応、電子分野向け特殊加工品のご依頼も多くいただいております。 また危険物第5類の自己反応物であるニトロセルロース(硝化綿)の加工や...

    メーカー・取り扱い企業: 大成化工株式会社 分散・コーティング事業部 成田事業所

  • 細胞加工培養受託サービス 製品画像

    細胞加工培養受託サービス

    細胞加工・培養の委託先施設としてご利用いただけるよう、新設備の整ったC…

    当社では、『細胞加工培養受託サービス』を承っています。 2015年、再生医療等の安全性の確保等に関する法律の施行にともない、全国の 医療機関からの細胞加工・培養の委託先施設としてご利用いただけるよう、 新設備...

    メーカー・取り扱い企業: コージンバイオ株式会社

  • [SSDP用加工]基板側からの測定用加工 製品画像

    [SSDP用加工]基板側からの測定用加工

    基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

    、試料表面の凹凸、イオン照射により表面側に存在する原子が奥側に押し込まれるノックオン効果やクレーター底面粗れ等の現象により、急峻な元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側(裏面側)からSIMS分析を行うのがSSDP法(Back-Side SIMS法)です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることなく、より正確な元素分布評価が可能にな...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 膜分析の受託サービス|JTL 製品画像

    膜分析の受託サービス|JTL

    メッキや薄膜、多層膜の分析を多彩な手法で適切に実施致します。

    主に断面研磨、イオンミリング(CP加工)、EDX、WDX、XRFの4つの手法から、メッキや薄膜などの観察・分析を実施致します。 無機物・有機物問わず、硬い膜や多層膜まで幅広くご対応しております。...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • ウルトラミクロトーム加工 製品画像

    ウルトラミクロトーム加工

    ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

    ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができま...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン(加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • クロスビームFIBによる断面観察 製品画像

    クロスビームFIBによる断面観察

    FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

    半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 1)FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。 2)2つの二次電子検出器(In-Lens/チャンバーSE)により試料から様々な情報が得られます。 3)加工用FIBと観察用低加速SEM...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス 分析解析・信頼性評価サービス

  • 立会による観察・分析サービス 製品画像

    立会による観察・分析サービス

    お客様立会にて高分解能SEM観察・元素分析を承ります!

    ・多試料の観察を、試料を持ち込んでいただき、お客様立会にて対応します。 また、エネルギー分散型X線分析装置(SEM-EDX)による微小部の元素成分分析、マッピング分析もできます。 イオンミリング加工が必要な場合は、あらかじめ試料をお預かりし、加工後に立会にて観察・分析をおこないます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 芝浦セムテック株式会社

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