• 【パワーデバイス用チップ】 外観検査装置※セミコンジャパン出展 製品画像

    PR欠陥検査を高精度で自動化!全6面検査自動化により、目視検査レスを実現!…

    パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化した外観検査装置です。 全6面検査自動化により、目視検査レスでの2D高精度欠陥検査を実現しました。(対象製品:IGBT用チップ・パワーダイオード用チップ等) 側面検査では、XYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出。上面・下面検査では、マルチアングル照明+複数枚撮像で様々な欠陥モードに適した検査画像...(つづきを見る

  • 画像処理・外観検査「お悩み解決策資料 入門編」 製品画像

    PR【1分で解説】画像検査についてのメリット・検査対象・検査項目!

    「お悩み解決資料 入門編」は画像検査専門のMVMATEが画像処理・外観検査に関する基本的な疑問について解説した資料です。スマートフォンのガラス面のキズや歪み、医薬品の欠けや欠損、化粧品パッケージの凹み、クッキーのヒビ割れや形の不揃い、シリアルナンバーの印字不良などの検査も対応します! 【こんなお悩みの方にオススメ!】 ■画像検査って何?目視検査と何が違うのか? ■どんなものの検査ができる...(つづきを見る

  • 15インチ液晶対応異物検査装置 製品画像

    傷や混入物の発見に最適で「目視」検査の省力化に適している異物検査装置

    15インチ液晶対応異物検査装置は、 画像の中で黒点や白点等として現れる「異物」を抽出し、 従来の自動機では発見できない異物の検査や「目視」検査の省力化に適しています。 液晶やガラス・フィルムの表面や内層に付着した異物又はキズの発見に利用可能です。 詳しくはお問い合わせください。...【主な特長】 ○画像の中で黒点や白点等として現れる「異物」を抽出 ○従来の自動機では発見できない異物の検...(つづきを見る

  • 粉体異物検査装置「PIE-C3」【検査精度に優れた卓上型!】 製品画像カタログあり

    測定誤差が無く、検査精度に優れた卓上型の粉体異物検査機!検出異物の画像…

    粉体異物検査装置「PIE-C3」は抜き取り目視検査に代わる自動検査装置です。データの共有化、他社との互換性に活かせ、かつ検出異物の画像を付属PCへ取り込み、異物の画像管理が容易になります。 【PIE-C3で検査することのメリット】 ■測定...(つづきを見る

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