• 表面粒子計測器『QIII LS』 製品画像

    バイアル瓶中の微粒子測定や、ゲノミクス研究でのウイルス数の把握当に最適…

    『QIII LS』は、表面上の粒子が簡単・迅速に測定できる表面粒子計測器です。 測定箇所の形状に合わせた多彩な測定用プローブを用意。従来の手法では難しい箇所の計測を可能にし、局所的な測定で発塵原の特定します。 クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く、粒子管理のバラつきを抑えます。 【効果】 ■パーティクルに起因したトラブルの低減 ■表...(つづきを見る

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  • 表面パーティクル検出器『Pentagon QIII』 製品画像

    表面上の粒子が簡単・迅速に測定可能!用途に応じて選べるパーティクル検出…

    『Pentagon QIII』は、数秒で試料表面のパーティクルを検出できる Pentagon Technologies社製の表面汚染粒子検出器です。 表面上の粒子が簡単・迅速に測定でき、クリーニングの手順と基準を定量的に 規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認や各種製造装置のクリーン 維持管理に適して...(つづきを見る

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