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  • 廃液減容化装置『蒸発・濃縮装置 (電気式小容量)』 製品画像

    廃液減容化装置『蒸発・濃縮装置 (電気式小容量)』

    PR臭気成分などを熱分解して排気！廃液処理のコスト削減を可能に！

    本装置は、電気ヒーターで廃液中の水分を蒸発させて濃縮し、 蒸発時に発生する臭気成分などを熱分解して排気する、廃液減容化装置です。 水溶性切削液、水溶性研削液などの含油廃液の場合は濃縮油を有価物にする事も可能です。 【特徴】 ■廃液処理のコスト削減可能 ■高温、高粘度、スラッジ含有濃縮液の自動排出機構 ■排熱利用の省エネ機構 ■脱臭触媒を標準設置して排気ガスに臭気・煙が出ない ...

    • 図2.png

    メーカー・取り扱い企業： プリテクノジャパン株式会社

  • 【カタログ進呈！】高性能オシロスコープ　PicoScope 製品画像

    【カタログ進呈！】高性能オシロスコープ　PicoScope

    PR先端デバイスの開発など、優れた信号解析性能が要求されるアプリケーション…

    高性能オシロスコープPicoScope 6428E-Dは、 既存のPicoScope 6000Eシリーズの性能を拡張したもの。 高エネルギー物理学、LIDAR、VISAR、分光分析、加速器、 および他の高速信号解析に取り組む科学者や研究者にとって理想的なツールです。 【特徴】 ・周波数帯域 ３ GHｚ ・最高サンプリング速度 10 GS/s ・分解能可変8－12ビット ・メモリ４GS ・アナロ...

    メーカー・取り扱い企業： Pico Technology Ltd.

  • 差圧式エアリークテスター『F620LV』 製品画像

    差圧式エアリークテスター『F620LV』

    大容量ワーク対応モデル！ノイズキャンセリング機能搭載の差圧式エアリーク…

    『F620LV』は、新型高感度圧力センサによる画期的な新技術を搭載した 大容量ワーク（最大200L）対応モデルの差圧式エアリークテスターです。 テスト環境における外乱要因の影響を排除し、より速くより正確な リークテストを実現。DNC機能を活用して0.1Pa/sec以下の圧力降下（変動...

    メーカー・取り扱い企業： アテック株式会社

  • 半導体プローバー　CP12 製品画像

    半導体プローバー　CP12

    従来のプローバーから大幅にサイズダウン、価格を下げたウルトラローコスト…

    ● プローバー寸法：1,620x1,240 mm ● 対応ウェハー：8", 12" ● 対応ダイサイズ：350um ~ 76,000um ● プロービングエリア：±170mm（-155mm-200mm） ● インデックスタイム：250ms (6x6mmダイサイズ時） ● スループット改善のためのプリアライメントとOCRユニット搭載 ● デジタルズームカメラ搭載 ● APC (Aut...

    メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

  • レーザーボンドテスター I +Magazine Changer 製品画像

    レーザーボンドテスター I +Magazine Changer

    効率的な抜取り検査や、中ロットの全ボンド検査にご利用いただける製品につ…

    その他詳細につきましては、お問い合わせください。 【概要仕様(一部)】 ■測定方法：レーザー周期加熱式接合界面測定法 ■測定対象 　・アルミワイヤ接合界面状態 　・ワイヤ径：φ200μm～φ400μm ■測定用レーザー：半導体レーザー など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業： アイエルテクノロジー株式会社

  • オープンショートテストシステム『V2048』 製品画像

    オープンショートテストシステム『V2048』

    テスタ本体の増設も容易！高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート

    2ピン/DUT） ■テスト項目 　・簡易ファンクション測定 　・DCパラメトリック測定（電圧印加電流測定・電流印加電圧測定） ■本体外形寸法・重量：570W×1582H×800D（mm）・200kg ■テストヘッド外形寸法・重量：430W×326.4H×580D（mm）・50kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社テストラム

  • DCテスタ『431-TT』 製品画像

    DCテスタ『431-TT』

    大電流・高圧測定、高速・パラレル測定にも対応！柔軟で多様なシステム構成…

    にも対応し、オペレーション画面上 での波形モニタなどのメンテナンス機能も兼ね備えています。 【特長】 ■VI ソースメジャモジュール構成 ■本体で1.2KV/130A（最大2.2KV/200A）まで測定可能 ■高速測定 ■マルチデバイステスト（2in1デバイスなど2DUT同測） ■ウェハパラレルテスト（2チップの同測） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社テセック

  • Laser Bond Tester II 製品画像

    Laser Bond Tester II

    好適な測定位置へ補正する機能を標準搭載！効率的な抜取り検査や中ロットの…

    ■測定方法：レーザー周期加熱式接合界面測定法 ■測定対象：金または銅のワイヤ接合界面 ■測定用レーザー：半導体レーザー ■測定領域：300mm(X)・300mm(Y) ■電源：三相AC200V 30A/max、要接地(D種) など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業： アイエルテクノロジー株式会社

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