切粉破砕機『チップクラッシャー』

PR切粉を最大1/10破砕！保管場所の省スペース化が実現。

『チップクラッシャー』は、機械加工で出る鉄くずを粉砕する製品です。 場所を取りがちな切粉の一時的な保管が、当製品の導入により省スペース化が実現。 破砕により容積を最大1/10に減らすことができ切粉の輸送などにかかる手間を減らすことができます。 さらに作業の効率化や、産廃コスト削減による節約なども見込めます。 SDGsやカーボンニュートラルへの取組みに対して親和性の高い製品です。 材質に合わせ...

メーカー・取り扱い企業： 浜松貿易株式会社

新製品　二液混合ディスペンサー　「ID-200R」

PR2液混合に必要とされる機能が充実した2液混合ディスペンサー 吐出量、混…

定量安定性のあるＭＧＰマイクロギヤポンプを、５相ステッピングモーターで駆動し、２液吐出用に専用設計された 制御部によって高精度な混合吐出を実現した２液用ディスペンサ－です。 混合部ローターの形状や容積、回転数などから、最適な条件を選べるカートリッジ方式強制混合タイプミキサーです。 本装置は微少量吐出が要求される２液性接着剤等のシール工程などに適しています。 特長 取り込んだポンプの基礎データを基に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本省力技術研究所　

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 　各種サンプル形態に対応します。 　Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ 　IR-OBIRCH解析：～100mA/10V　～100uA/25V　まで対応 　エミッション解析：...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ナノフォーカス・マイクロフォーカスX線CTスキャンサービス

形状のぼやけが極めて少ない高解像度画像を提供いたします

マイクロフーカス）*但し、サンプル及び計測条件による 測定許容誤差：3.8+L/100μm VDI2630-1.3基格準拠 検出器：フラットパネルディテクタ（FPD） 　　　　ビクセルサイズ200μm x 200μm 　　　　感度工リア400 x mm（16” x 16 ） 　　　　ピクセル数: 2,000 x 2,000ピクセル（4M） マニピュレータ：高精度花崗岩4軸マニピュレー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社光佐株式会社

ドイツ　大型リニア加速器高出力工業CT diondo d7

高密度部品の分析・検査のための高性能線形加速器CT装置

▪ フラットパネル検出器 　リニアック CT に最適化された高解像度 (140μm) フラットパネル検出器 ▪ ラインアレイ検出器 　リニアック CT に最適化された高解像度 (200μm) リニアアレイ検出器...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

DNAシーケンスサービス『一般シーケンス解析』

最長 1,200bpをシーケンス！お送りいただいたサンプルで結果をご報…

試しいただくため、 3反応を無料で提供しております。ぜひ一度お試しください。 【特長】 ■Applied Biosystems 3730xl DNA analyzer使用 ■最長 1,200bpをシーケンス ■サンプル到着後、最短24時間、通常36時間、 　最大4営業日(大量の場合)以内に結果報告 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マクロジェン・ジャパン 東京営業所

ドイツ　大型高出力　工業CTシステム　diondo d4

高密度の中大型部品向けのコンパクトなコンピュータ断層撮影検査システム

【仕様】 X線管：450/600kV フラットパネル検出器: 3000 × 3000px、139μm ラインアレイ検出器: 3070px、200μm 最大有効検出範囲: Ø530 × H820mm / Ø670 × H800mm、カスタマイズ可能 焦点距離サイズ: 1350mm、調整可能 最大耐荷重：70kg 本体サイズ：L250...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…

装備 ■ゲート用電源-10V～20V×16台を装備 ■最大16chのデバイスを同時に試験 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■最高200℃まで対応した冷却プレートを装備 ■TOパッケージ用の治具も標準で装備 ■水冷式のモジュールにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】リチウム二次電池負極表面の劣化評価

大気非暴露で前処理から測定・観察まで行います

容量低下が見られるリチウムイオン二次電池負極表面を大気非暴露で評価した結果、100～200nm程度のCoを含む付着層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。 適用可能な手法観察手法：FIB‐TEM, SEM 表面分析：SIMS,XPS,AES,TOF‐SIMS その他...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】環境制御in-situXAFSによるRuO2触媒評価

着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能

に適しています。本資料では、in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例をご紹介します。スペクトルの形状から、100℃～200℃の間でRuO2がRuに還元されることが確認されました。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

振動試験の受託サービス（大型3軸同時加振試験/単軸加振試験）

様々な波形を再現した振動試験・解析・評価を承ります。試験治具の設計・製…

G 　2.5t搭載時／水平X 3.0G｜水平Y 3.3G｜垂直Z 2.0G - 最大速度：水平XY 1.5m/s｜垂直Z 1.0m/s - 最大変位：水平XY 300mmp-p｜垂直Z 200mmP-P - 振動数範囲：0.5～100Hz - 最大搭載質量：2,500kg - 振動テーブルサイズ：2.5m×2.5m ●単軸加振試験装置 - 振動数範囲：～2,600...

メーカー・取り扱い企業： エア・ウォーター防災株式会社

【分析事例】低分子シロキサンの定量分析

アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します

着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。 本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチルシロキサンの発生量を調査した事例を紹介します。。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SIM像　3D再構築解析受託サービス

SIM像3D再構築解析の受託スタート！※材料開発や半導体、基板のトラブ…

■逐次加工・観察で再構築データを作成 ■スライスデータの重ね合わせが高精度で、高品位な３Ｄデータを作成 ■スライスピッチは1nm～1μmで設定可能 ■高分解能なSIM像観察 ■観察対象：200µmまで対応可能 ■研磨加工で不具合箇所が消えてしまうような微小な観察対象でも観察可能 ※解析例などの詳細については、お問い合わせいただくかまたはカタログをダウンロードしてご覧下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 東レ・プレシジョン株式会社

ドイツ　サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5

熱膨張率が低い花崗岩ステージ！2種類の検出器が搭載可能な高出力 X 線…

【仕様】 マイクロフォーカスX線管：240/300 kV 小焦点X線管：450/600kV エリアアレイ検出器：3000 × 3000px、139μm ラインアレイ検出器：4100px、200μm 焦点距離範囲 (マイクロフォーカス): 500-1950mm 焦点距離範囲 (小焦点): 850-2400mm /　800-2100mm 最大有効検出範囲: Ø700 × H1300...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

SNP(SNPs)ジェノタイピング受託解析サービス

Taqman試薬によるSNP受託解析を行います。Taqmqnは信頼性の…

ります。Taqman法はSNP解析において、経済的で信頼性の高い正確な解析方法です。論文でも多数採用され最も一般的な解析法となっています。Taqman試薬代がかかるのが欠点ですが、１回の試薬購入で200~300サンプルの解析が可能です。また、試薬も数百万ポイントABIで用意されています。試薬をユーザー様で購入された方が経済的になります。 DNAを送っていただくだけで解析を報告させていただきます...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムバイオティックス

ガス昇圧設備を用いた高圧ガス試験

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

■水素ガス充填試験装置 ・高圧水素圧縮機：95MPa，200Nm3/hr ・水素ガス蓄圧容器：95MPa，2448L ■ガス供給ユニット ・瞬時最大流量：3600g/min ■ガスブースター ・最高圧縮能力：110MPa ・使用可能ガス：水素ガ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人日本自動車研究所

恒温恒湿槽

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

0 ～ 150℃　　・湿度範囲：60 ～ 98％RH ■蓄電池環境試験装置 ・温度範囲：-40 ～ 150℃　　・湿度範囲：20 ～ 98％RH ■熱衝撃試験装置 ・温度範囲：-65 ～ 200℃　　・湿度範囲：－ ■複合環境振動試験機 超大型 ・温度範囲：-40 ～ 120℃ ・湿度範囲：30 ～ 95％RH （at 20 ～ 80℃） ・振動周波数：5～100Hz（垂直），5...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人日本自動車研究所

ポゴピン評価サービス

ポゴピンの第三者評価機関としてご活用下さい。

て抵抗値や荷重を測定します。ストロークｖｓ 抵抗値に加えストロークｖｓ 荷重も測定可能で、全回数抵抗値測定も可能です（ただし１本ずつとなります）。Lapは、0、10k、50k、100k、150k、200k回等、指定回数にて実施します。摺動方法は、指定ストロークで摺動させます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。...

メーカー・取り扱い企業： テス販売株式会社 本社

【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定

熱履歴を揃えた標準試料の活用提案

気中の酸素や水分と反応し、分子構造が変化します。そのため、異物や付着物が高分子材料の可能性がある場合、測定サンプルと同じ環境で処理した標準物質を比較データとして用いる必要があります。 熱処理（200℃/30分）によってPP標準物質がどのように変化するかを調べるため、FT-IR及びTOFSIMS測定を行いました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【課題解決事例】排水検査の精度を保つためのクロスチェック

排水検査と除害施設メンテナンスの分離発注がなされており、排水の水質が基…

たが、その結果は実情に合わず（懸濁物質SSが0mg/L ※0mg/L とは全く浮遊物がない状態）、信頼性の低いデータでした。 ちなみに、ほぼ同時期に当社が実施した排水検査のデータは基準値（＝200mg/L）付近で、違う結果でした。 このような事例を踏まえると、排水検査を分離発注していない場合には、適宜、当社のような第三者機関でクロスチェックを実施されることが有効と考えられます。...

メーカー・取り扱い企業： 日本水処理工業株式会社 本社

医薬品業界向け！電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』

透過型電子顕微鏡による安全性試験！長年積み重ねてきた経験と実績がありま…

【作業内容】 ■5万倍以上の倍率で100～200視野の細胞を観察し、20個以上の細胞を撮影 ＜樹脂包埋超薄切法＞ ■10^7個の細胞をグルタルアルデヒドおよびオスミウム酸で固定 ■脱水後に樹脂包埋し超薄切片を作製 ■酢酸ウランと鉛染色液で二重染...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

【分析事例】TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価

試料のベーク温度の違いによる脱ガスの変化をTDSで確認できます

TDSは昇温と共に脱離する無機ガス・有機ガスについて、脱離の温度依存性も評価可能です。そのため、試料のベーク温度による脱ガスの評価に有効です。 レジスト膜について50℃ベーク、200℃ベークを行い、それぞれについてTDS分析を行った結果を示します。「50℃ベーク後」に検出された200℃までの脱ガスピークが、「200℃ベーク後」では検出されていないことが確認できました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST