廃棄太陽光パネルリサイクル装置『PVリサイクルハンマー設備』

PR廃棄太陽光パネルを１回の処理でほぼ完全にガラス、アルミ枠、バックシート…

太陽光パネルは、再生可能エネルギー電力の買取制度（FIT）、地産地消型の独立電源としての期待もあり、急速に普及しましたが、寿命や破損によって、廃棄量は最大年間約80万トン、約4,000万枚が排出されるとの試算もあります。 『PVリサイクルハンマー設備』は、廃棄太陽光パネルをゴミとせず、新たな"資源"として再活用するリサイクル装置です。 また、アルミ枠分離からガラス分離までの連続運転が可能になりま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社タイガーチヨダ

手作業と比べ1/60以下の時間短縮『CNCプラズマ自動切断機』

PRワンタッチ起動でプラズマ切断可能！枝管切断・母管穴切断など様々な切断仕…

当社では、パイプを装着後にタッチパネルで切断諸元パラメータを設定すると、 ワンタッチ起動でプラズマ切断が行える『CNCプラズマ自動切断機』を 提供しております。 手作業（型紙墨入れ+実切断時間）に比べ、1/60以下に作業を短縮。 さらに、仕上がりも綺麗です。 【切断技術】 ■枝管切断 　・直角切断 　・斜め切断 　・斜め平面切断 ■母管穴切断 ※詳しくはPDFをダ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エトロンシステム

チップ部品外観検査機『SS-2000シリーズ』

高精度検査を実現！微細チップから特殊サイズまでチップ部品外観検査に完全…

『SS-2000シリーズ』は、チップ部品の多面外観形状を自動で高精度かつ 正確に検査する装置です。 0402、0603サイズ等の微細チップ部品から1005～3216以上の特殊サイズまで 独自のワーク搬送...

メーカー・取り扱い企業： 西進商事株式会社

『試験装置･テストベンチ室』

ご近隣への騒音問題の解決や作業者への騒音負荷の軽減をはかります！

【事例】 ■対象設備：振動試験機 ■概略寸法：3500×3000×2500H ■仕様：両開ドア（開口1600×2000H） ■施工期間：2日 ■対象設備：振動試験機・衝撃試験機 ■概略寸法：2000×2000×2500H ■仕様：コーナー両開きドア（開口1200×800×2000H） 　　　　イエロ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジェイ・エス・ピー

PIND試験装置　微粒子衝撃雑音検出装置

デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。

kgf、19mmp-p、190cm/sec 増巾器：240Ｗ 最大搭載重量：20G ピーク時、200グラム ○衝撃 作用時間：サイン波100μsec以下 加速度：1000±200G、0～2000G調整 アプリケーション：オート or マニュアル 軸：振動と同じ ○検出器 ウルトラソニックトランスデューサー：感度-77.5±3dB 増巾器：60±2dB@155±5KHz 10mV...

メーカー・取り扱い企業： エア・ブラウン株式会社 電子機器部

近赤外無限遠f=200mm結像顕微鏡

InGaAs(SWIR) カメラ対応顕微鏡

近赤外線専用対物レンズPEIRシリーズ 1x、2.5x、10x、20x、50x、100x 2000nmまで高透過率を持つPEIR2000HRシリーズ 20x2000HR、50x2000HR...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所

パワー半導体　ICテスター　CTT3700

低価格、高精度を実現するために日本メーカーのテスターから海外メーカーの…

ばなりません。パワー半導体の大きな市場でもある日本。電気的特性のテスターも日本メーカーが供給しているなかで、なかなかテスター自体の価格が下がってこないのが、現状。CCTECHの CTT3700は2000V/100A対応のMOSFET、ダイオード、電圧レギュレータ、IGBTデバイスのテストを可能にし、従来の日本国内メーカーが提示していた価格から、海外で開発、製造をすることで、低価格を実現しました。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

パワー半導体ウェーハ同時測定テストシステム

パワー半導体のウェーハを32個まで測定が可能

組み合わせることにより、同時測定を実現しました。 テストボックスは、他社製のプローバに対応しており、それぞれ異なったメーカーのプローバでも接続が可能です。 また、本体のテストシステムは、最大、2000V/30Aにまで対応しており、パワー半導体、IGBT, FRD, SBD, MOSFETなどを測定するのに最適です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シバソク

電動アクチュエータ CSKR、CGL（クリーン） [THK公式］

低発塵構造を採用しクリーン環境に最適！ 高速性・高剛性・長期メンテナ…

アクチュエータ スーパーFAシリーズ　CSKR/CGLは、カバーリング構造により、低発塵化を実現したため、電子部品業界、食品・医療業界のクリーン環境での搬送・検査用途に適応します。また、最高速度2000mm/sの高速性、U字形断面形状のアウタレールを採用による高剛性、ボールリテーナ採用による長期メンテナンスフリーを可能にしました。 なお関連リンク先では、より、詳細な製品説明をはじめ、製品カ...

メーカー・取り扱い企業： ＴＨＫ株式会社

高トルクNC長尺加工機『FB-5000-20ATC-S』

※動画掲載中！高トルク・高剛性化によりドリル45φ、タップM24に対応…

【仕様】 ストローク　X軸：2000～8000mm 　　　　　　Y軸：400mm 　　　　　　Z軸：300mm 早送り速度X軸　：50m／min 切削送り速度　 ：1～5000mm／min サイズ（高さ×幅×奥行）：226...

メーカー・取り扱い企業： フジ産業株式会社

SXGA・2M 小型CXPカメラ・Low Cost

小型・軽量・低価格でインターフェースにCoaxPressを使用する事に…

H29x D29 mm モノクロ(M)・カラーモデル(R)・NIRモデルをラインナップ 【VCC-2CXP2M】(モノクロモデル) 2M　グローバルシャッタ 2/3型　PYTHON 2000 センサ搭載 有効画素数：1984(H)x1264(V) セルサイズ：4.8 x 4.8 μm　 インターフェース：CoaxPress (CXP1-3) フレームレート：85fps (CX...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

ライフタイム測定装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ASMPT社製 AOI検査装置　Skyhawkシリーズ

自動光学検査可能装置を取り扱っております

装置 ・マルチレーザーダイシング装置 ・ワイヤーボンダー装置 ・その他ダイボンダー装置（アライメント精度0.2µm～25µm） 〇ASMPT装置導入実績（国内、国外トータル）： 年間2000台　ダイボンダー、年間4000台ワイヤーボンダー...

メーカー・取り扱い企業： 兼松ＰＷＳ株式会社

「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が…

「低価格版 ウエハ・チップ外観検査装置 HMWF-A2000」は、高画素カラーカメラを搭載することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。 ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速か...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヒューブレイン

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

● スループット：>1400　（UPH) ● ジャムレート：<1/1000 ● 筐体サイズ：4000 x 1550 x 2000(LWH) ● テストサイト:13サイト ● 検査機能 　〇 6面外観検査対応 　〇 カメラ部検査 　〇 冷却ファン検査 　〇 コネクター部検査 　〇 FPC/QRコード検査 　〇...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

石製 エアースライダー

様々な仕様に対応できる豊富なバリエーションで高精度なエアースライダーを…

【製作実例】 ■サーフェス型：高精度で低重心コンパクト ■ガントリー移動型：グラナイトとセラミックを適材適所で採用 ■ガントリー固定型：3000×2000（mm）までの大ストロークでも製作可能 ■超大型 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社関ケ原製作所

拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定！オプションにより表面抵抗測…

ウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI層の厚み、PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定。 「SRP2000」は、プローブのコンディショニング、ベベルアングルの測定、 標準サンプルのデータ入力などが全自動化し、多数サンプルの連続自動 測定ができ、サンプルは最大6個同時搭載可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

資料無料進呈中！半導体ICテスターの選定方法について

低価格、高機能の半導体ICテスターを選ぶならCCTECH製。選定ポイン…

ーカーを選定するメリットのご紹介。その手法から、ICテスターのスペックをご紹介。 パワー半導体テスタ（P3000) 概要 P3000はパワー半導体製品の電気的特性を検査するのに好適です。2000V/200A、高速、 高精度なテスターで、4サイトまでの同時検査を可能にします。ダイオードやMOSFET、レギュレータ、IGBT、SiCやGaNなどの様々なパワー半導体をサポートしております。 ...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Dynamic Tester『ST-6527B』

複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます

【電気的仕様】 ■コレクタドライバ 　・Vce最大出力電圧：1700V 　・Vclamp最大出力電圧：2000V ■測定負荷 　・L負荷：6種類 　・R負荷：5種類 ■ゲートドライバー電源、ゲートドライバー、Rg 　・放電時間：5ms/15V以下 　・ドライバー出力ピーク電流：4A　など ...

メーカー・取り扱い企業： 嶺光音電機株式会社

Junction Photo Voltage(JPV)

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

- 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラットフォームWT-2000、WT-2500、WT-3000やインラインのウェハーテスト装置に組みつけが可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社