• インライン画像診断ユニット『CI-100シリーズ』 製品画像

    PRラボ検証の5000倍のN数も!確度向上で不良の過検出を削減!最短1日で…

    『CI-100シリーズ』は、コンベアラインに挿入することで、 撮像テスト検証後に膨大な画像データを元にした判定アルゴリズムを作成し、 合否判定の素材となる検証用データを作成する画像診断ユニットです。 手作業と比較して検証用N数を5000倍にも増やすことができ、 数少ないテスト結果を元にした合否判定で懸念される 環境による外乱、色味のズレや反射による 不良の過検出・取りこぼしを削減。...(つづきを見る

  • バウンダリスキャンテスト JTAG (CORELIS) 製品画像

    BGA・QFP搭載基板、狭ピッチコネクター導入基板をピンレベルで検査。

    バウンダリスキャンテスト JTAG の特徴は、BGA部分の品質をファンクションで保証すると製品全体の検査時間が増大し、結果、確実にBGAの実装保証が可能となり、不良原因の特定が短時間且つピンレベルで実現可能。...(つづきを見る

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