• にじみのない鮮明な画像で高精度な検査実現!オフラインX線検査装置 製品画像

    PR半導体・電子部品・リフロー後の実装状態のX線検査で、にじみのない鮮明な…

    「NEO-6110Z」は、オリジナル直接変換方法X線カメラを搭載し、 鮮明で輝度劣化の少ない画像での検査が可能です。 また、透過型密接管式X線発生器を搭載し、 幾何学的拡大率約100倍までの拡大撮影が可能です。 さらに、オプションにて自動検査機能及びCT機能を追加することが可能です。 【特徴】 ■透過型密封管式X線発生器の採用により高倍率と容易なメンテナンスを両立 ■装置内...(つづきを見る

  • 変角分光測色システム『GCMSシリーズ』 製品画像カタログあり

    材料および塗料等の加工表面、散乱分布関数の基本データ測定が可能!

    『GCMSシリーズ』は、観測角や光の入射角の違いで変化する色を、 反射光(透過光)の空間分布として測定出来る変角分光測色システムです。 「GCMS-3B」「GCMS-4B」は、⼊射⾓、受光⾓を正確に制御し、 各⾓度毎に分光分布の測定を⾏います。 機器の校正後、試料をセットし、⼊射⾓、受光⾓の変⾓範囲、測定ステップ⾓度、 表⾊系等、測⾊条件を設定するだけで全⾃動で作動します。 ...(つづきを見る

  • CERVO Deep Type-BOX for NNC 製品画像カタログあり

    Sony Neural Network Console インストール代…

    「Sony Neural Network Console」は、従来のようなプログラミングを必要とせずに、ディープ・ラーニングを実装できるツールで、無償で利用することができます。 弊社では、この「Sony Neural Network Console」をお客様に代わりワークステーションにインストールして出荷致します。 「Sony Neural Network Console」は、プログラミング...(つづきを見る

  • 高機能外観検査装置『LI900W』 製品画像カタログあり

    デバイス全方向検査が可能!車載用半導体ICの目視外観検査撤廃を実現!

    【検査項目】 ■BGA/CSP  ・浮き、端子高さ、スタンドオフ、反り、全高、端子中心位置、端子径   全長/全幅、パッケージ中心ズレ、パッケージ端、位置度A、端子ピッチズレ ■QFP/SOP  ・浮き、スタン...(つづきを見る

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