• 【低価格&ケーブルレス】小型WiFi振動センサー『コナンエアー』 製品画像

    PR専用ソフト不要で、既存システムやクラウドにそのままデータが利用できる!…

    当社が開発した『コナンエアー』は、簡易診断向けの電池式小型Wi-Fi振動センサーですが、付属アプリでFFTも可能です。 特別なアプリやソフトを使用せず、タブレットやスマートフォンとブラウザ上で接続することができ、誰でも簡単に使うことがます。 従来品とは異なり、データ管理に専用ソフトは不要で解析ソフトも付属。 生データをそのまま既存システムやクラウドに適応させて、様々な分析や解析に利用可能...(つづきを見る

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  • 接触式回転角度センサ『CP-45FBシリーズ』 ※技術資料進呈 製品画像

    PR新抵抗素子で精度・耐久性を向上。単独直線性は±0.1%を実現。 豊富…

    『CP-45FBシリーズ』は、新開発の抵抗素子を採用することで 検出精度・耐久性を高めた接触式の回転角度センサのフラッグシップモデルです。 単独直線性は当社従来品の±0.3%から±0.1%に向上。 摺動寿命は5000万回以上と大幅に改善しました。 2連タイプや防滴仕様、センタータップ付きなど豊富なバリエーションで ユーザニーズに応えます。 【特長】 ■単独直線性:±0.1...(つづきを見る

  • 【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価 製品画像カタログあり

    GCIB(Arクラスター)を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可…

    ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長をもち、太陽電池パネル・メガネレンズ・CD・車載部品・医療機器の材料として、幅広く活用されております。今回、スパッタイオンビームにGCIB(Arクラスター)を用いてTOF-SIMS分析を行い、PC表面の劣化層の評価を行いました。 ※GCIB:Gas Cluster Ion Beam...詳しいデー...(つづきを見る

  • 【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析 製品画像カタログあり

    フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価

    食品用ラップフィルムは製造過程での熱暴露に対する安定性や、可塑性を持たせるために添加剤が用いられる場合があります。これらの添加剤は調理条件下で変化することなく安定に存在することが求められます。本事例では添加剤の一つであるIrgafos168の存在状態が加熱前後で変化(ブリードアウト)するかについてTOF-SIMSを用いて調査した結果をご紹介します。※GCIB:Gas Cluster Ion Bea...(つづきを見る

  • 【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価 製品画像カタログあり

    GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

    高分子材料の表面にイオン照射を行うことにより、表面特性の変化が生じます。この変化を利用し、機能性材料の開発など広い分野で研究が行われています。イオン照射後、表面状態にどのような変化が生じたのか評価することは、効率的な研究・開発に重要です。 TOF-SIMS分析では、スパッタイオンビームにGCIB(Gas Cluster Ion Beam)を用いることで、高分子材料表面のイオン照射による損傷層(ダ...(つづきを見る

  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像カタログあり

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    ポリイミドは非常に耐熱性が高く電気絶縁性も優れていることから、電子部品をはじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価しました。GCIB(Arクラスター)をスパッタに用いると着目する有機成分を...(つづきを見る

  • 【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 製品画像カタログあり

    雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

    大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB(Arクラスター)を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量(m/z 564)や、低分子のベンゼン系の質量(m/z 77,105)が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面から約1μm以...(つづきを見る

  • 【分析事例】RGB素子の有機EL材料の深さ方向分析 製品画像カタログあり

    雰囲気制御下でのGCIB(Arクラスター)を用いた有機EL層構造・劣化…

    有機ELディスプレイは高精細化・低消費電力化の可能性を秘めた材料であり、市場拡大が期待されています。近年では画質の高精細化のために配列画素が微細化されていく傾向がみられています。 小さな画素を狙って測定を行う場合、従来の斜め切削TOF-SIMS測定では、深さ方向の評価が困難でしたが、今回GCIB(Arクラスター)を導入することで、微小画素でも深さ方向に再現性良く有機EL材料の評価が可能であり、材...(つづきを見る

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