• CCDカメラモジュールの断面加工観察 製品画像

    CCDカメラモジュールの断面加工観察

    当社の高い技術で、難易度の高い試料の断面も作製できます!

    CCDカメラモジュールは、小さな筐体の中にセンサや制御素子、AF駆動機構など 電子技術と機械技術を融合した複雑な構造で構成されています。 また材料も金属、ガラス、樹脂など多数使用されており、断面作製は困難な 部類となります。 当社では、高い技術で、このような難易度の高い試料の断面も作製できます。 【CCDカメラモジュール断面】 ■小さな筐体の中に複数のレンズやフィルターが内蔵 ...

    • 2.jpg
    • 3.jpg
    • 4.jpg
    • 5.jpg
    • 6.jpg
    • 7.jpg
    • 8.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • CCD画像イメージング ハイスループット生物発光測定解析システム 製品画像

    CCD画像イメージング ハイスループット生物発光測定解析システム

    大規模な測定解析が可能!ウルトラハイスループット測定解析システム

    大量の生物試料の遺伝子発現を「生物発光リアルタイム測定法」によって数日~1週間以上の長時間にわたって自動測定する発光測定解析システムです。高感度CCDを搭載し、マイクロプレート、シャーレ、試験管、生物個体などの様々な形状の試料(A4の面積×13cmの高さまで)に対応が可能です。独自の技術によって高速処理を実現しました。 96ウェルプレートを使...

    メーカー・取り扱い企業: 中立電機株式会社 大阪営業所

  • 反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』 製品画像

    反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』

    スピーディで豊富な解析項目と、簡便な操作性を実現!高精度な測定が可能

    性能デジタル画像処理により、高精度な測定ができる 反射用レプリカ解析システムです。 採取したレプリカに平行光を角度30度で照射する事により、得られる キメ・シワ等の形状に応じた陰影画像をCCDカメラで撮像。専用解析ソフトで 画像処理する事によりキメ・シワ等の形状、定量解析を行います。 シワでは得られた解析画像を基に深度に応じて色が変化するため、 合成画像による深度の変化が捉え...

    メーカー・取り扱い企業: 日本アッシュ株式会社 本社

  • ビームプロファイル用カメラシステム『MAC-535』 製品画像

    ビームプロファイル用カメラシステム『MAC-535』

    シャッタータイミングの制御をμ秒精度でコントロール!

    『MAC-535』は、高解像度、高フレームレートのカメラを組み合わせ、 電子ビームの空間プロファイルをモニター、計測するカメラシステムです。 高分解能CCDカメラおよび高フレームレートCCDカメラを使用し、 電子ビームの発生に同期して撮影、解析、記録を行ないます。 記録されたデータファイルはオフラインで表示、再解析ができ、 オンライン解析で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社松浦電弘社

  • 実験計画法ソフト 『Design-Expert』 製品画像

    実験計画法ソフト 『Design-Expert』

    あらゆる実験ニーズに応える豊富な実験計画構築ツール

    他の情報】 ・“Min‐run Res V” (最小試行分解能 V) 計画、因子数 6 ~ 50 ・“Min‐run Res V” (最小試行分解能 V) 一部実施要因配置コアをベースとする CCD (中心複合計画) 、最大因子数 50 ・“Min‐run Res V” (2 水準要因配置) 計画、因子数 5 ~ 50 ・中心複合計画 (CCD)、最大因子数 30、最大ブロック数 8 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューリンクス

  • X線残留応力測定機による受託サービス|JTL 製品画像

    X線残留応力測定機による受託サービス|JTL

    残留応力測定機により試料表層の残留応力を非破壊で測定します。

    Rigaku製 AutoMATE ●X線管球:Cr管球 ●2θ測定範囲:98~168° ●入斜コリメータ:φ150、300、500μm φ1、2、4mm ●検出器:PSPC検出器 ●CCD付ズーム顕微鏡:×20~135 ●ステージ制御:マッピング・ティーチング機能付 ●自動XYZ軸可動範囲:XY100mm×Z40mm ●最大試料スペース:φ320×t215mm ●最大試料重...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • ビームプロファイラ『BeamWatch AM』 製品画像

    ビームプロファイラ『BeamWatch AM』

    すべての測定がリアルタイム!起動直後に発生するフォーカルシフトの計測が…

    【特長】 ■カメラの視野内のビーム集光曲線に沿った複数のプロファイルの同時計測が可能 ■リアルタイム計測している為、レーザー始動時からの焦点シフトの計測が可能 ■ビーム空間測定に必要なCCDカメラと、NISTトレーサブルのパワーセンサを搭載 ■レーザーパワー密度の解析が可能 ■起動直後に発生するフォーカルシフトの計測が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オフィールジャパン

  • 非接触ビームモニタリングシステム『BeamWatch』 製品画像

    非接触ビームモニタリングシステム『BeamWatch』

    高出力ディスク&ファイバーレーザー測定!非接触ビームプロファイラーのご…

    【仕様】 ■ビームサイズ:55µm - ~2.75mm ■インターフェース:GigEイーサネット ■センサタイプ:シリコンCCDカメラ ■パワーレンジ:~400W to >100kW ■推奨波長:980-1080nm ■入射/出射 最大ビーム径:12.5mm ■コンプライアンス:CE, UKCA, China Ro...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オフィールジャパン

  • 粒子画像速度測定法 (PIV) - FlexPIV 製品画像

    粒子画像速度測定法 (PIV) - FlexPIV

    気流及び水流計測、そして最大100m/secまでの流速計測が可能なPI…

    FlexPIVシステムは、少領域から中程度の領域までの照明としての65mJ@15Hzデュアルキャビティレーザと、1.3MピクセルCCDカメラ及び35mm F2.1レンズから構成されています。 100m/sec以上の流速の測定が可能になります。 カメラのフレームレートは15Hzになります。簡単にPCとGigEネットワークで接続...

    メーカー・取り扱い企業: ダンテック・ダイナミクス株式会社

1〜9 件 / 全 9 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg