GaAsフォトダイオード　OSI optoelectronics

◆GaAsフォトダイオード ◆GaAsを基にした半導体の光センサ …

アクティブエリアに入射された時にフォトカレントを発生するGaAsを基にした半導体の光センサです。 一般的に400から850nmに感度があります。 【フォトダイオードアレイ】 FCI-GaAs-XXmは、高速ファイバーレシーバやアプリケーションモニタ用...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプトロンサイエンス

ガウスメーター『HGM3-3000P』

スイッチ切替により交流磁界測定対応モデル！

応しています。 【特長】 ■ピークホールド機能を搭載 ■コストパフォーマンスに優れる ■スイッチ切替により交流磁界測定にも対応 ■独自技術により、標準磁石による日常の校正は不要 ■GaAsホール素子を使用しており、広範囲な温度条件での測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エーデーエス デンケングループ

非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性！三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてシート抵抗を測定します。 【特長】 ■探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を解決 ■多数枚を迅速に計測処理する事が可能 ■0...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

【NDT X線検出器】X-Spectrum社 LAMBDAの紹介

NDT(非破壊検査)用のX線検出器としてもご使用いただくことが可能です…

【システム概要】 ■ピクセルサイズ：55µm×55µm ■センサ種類：Si、GaAs、CdTe ■チップ：Medipix3 読出チップ搭載-高速読出 ■ソフトウェア：C++Library、Python、3rd party driver for Tango&EPICS ■エネ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジェピコ 本社、大阪支店、名古屋支店、練馬支店

非接触式超低抵抗レンジシート測定システム『PVE-80』

PCによる簡単な測定操作、データ保存・管理！測定表示単位の変更が可能な…

【測定仕様】 ■測定対象 　・新素材、機能性材料関連(カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、銀ナノワイヤーなど) 　・導電性薄膜関連(メタル、ITOなど) 　・化合物半導体関連(GaAs Epi, GaN Epi, InP, Gaなど) 　・その他(※お問い合わせください) ■測定サイズ：～A4サイズ程度(W300 x D210mm) ■測定範囲：50μ～1m Ω/sq ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能！マイウロウェーブ反射による非…

1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体（GaAs、GaN、InP等） epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチャージ密度が 測定できます。 【特長】 ■マイウロウェーブ反射による非接触移動度測定 ■高周波...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-80MAP】

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-80MAP】

【化合物GaAsエピ層、GaP、GaNなどの非接触シート抵抗多点測定器】 ◆最大4本のセンサーによるフルレンジ測定 ◆周辺6mmからの多点測定可能 ◆SPCソフトウェア（経時変化）機能 ◆最大217点...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

スクラッチ装置

高精度・精密計測！任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を全…

ておりウエハーの 厚みに依存しません。 画像記録のほか任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を、 全自動で行います。アプリケーションとして、透明体、半透明のSiCやGaN、 GaAs、サファイア、シリコンなど、多彩に対応致します。 【特長】 ■極微少なスクラッチ（傷）、異物、カケの外観検査を全自動で行う ■ワークまでの距離を自動で測るレーザー変位計を装備 ■ウエハ...

メーカー・取り扱い企業： ソフトワークス株式会社