• ROM書込みサービス 製品画像

    ROM書込みサービス

    PRお客様は基板に載せるだけ!300社を超える主要ICサプライヤーのデバイ…

    『ROM書込みサービス』は、長年の実績があり、当社グループの ISO9001認工場において、高い品質管理の下、作業を行うサービスです。 多品種で小ロット、Microchipをはじめとする主要ICメーカー製品への対応、 小ロットでのテーピング加工など、お客様の様々なご要望に柔軟に お応えする安心の書込みソリューションをご提供。 捺印・リール加工、物流まで安心の一元管理でき、煩雑な管...

    メーカー・取り扱い企業: グローバル電子株式会社

  • ICタグによるクリーンウェア管理サービス 製品画像

    ICタグによるクリーンウェア管理サービス

    PRICタグによりウェア管理業務を省力化! 洗濯回数が把握できるようにな…

    当社では、お客様のクリーンウェアにICタグを取り付け、当社工場への 入荷時と出荷時に専用のICタグリーダーで読み取りを行い、ウェアごとの 洗濯回数データを管理できる『ICタグによるクリーンウェア管理サービス』を行っております。 ICタグを取り付けたウェアごとに洗濯回数を個別管理できるため、 お客様が設定された洗濯回数を超えたウェアをタイムリーに交換可能。 ウェア劣化によるコンタミネー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社菱進

  • 半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像

    半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

    端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

    ・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品:表面実装型 ICパッケージ(BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA) 、イメージセンサ、センサ製品 等 ■2D...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • IC高精度外観検査装置『LI900W』 製品画像

    IC高精度外観検査装置『LI900W』

    半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー 車載製品 実績NO.1

    『LI900W』は、車載用IC等の高精度な検査が求められる製品の外観検査に適した装置です。 〇寸法検査  JEITA規格に基づいた寸法検査が搭載されています。  2D検査:全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 3次元形状測定用ラインセンサCHROCODILE CLS2.0 製品画像

    3次元形状測定用ラインセンサCHROCODILE CLS2.0

    非接触ラインセンサCLS第二世代。高精度・高速・広範囲の3次元形状測定…

    電(スマートフォン) ・LCDガラス ・OLEDマスク検査 ・表面の細かいスクラッチ等のキズ ・ワイヤボンディング ・ARグラス ■半導体製造プロセス ・欠陥検査 ・BGA検査 ・ICパッケージや回路検査 ■自動車関係 ・バルブ検査 ・車の内装 ・ガラス検査 ・エアバッグの溶接ビードの検査...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • TheImagingSource社製 3次元計測ラーニングキット 製品画像

    TheImagingSource社製 3次元計測ラーニングキット

    3次元計測ラーニングスタートキット 簡単セットアップ、学術研究目的に…

    TheImagingSource社のIC3Dステレオカメラシステムは、アプリケーション要件に基づいて【カメラ間隔】、【カメラ角度】、【カメラの画素数】、【レンズの画角】を柔軟に変更し、自らワークや仕様に合わせて試行錯誤ができるキットです。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アルゴ

  • 高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』 製品画像

    高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

    【サンプル評価可能!】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易!3D…

    高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。  3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能 ■2...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • ハレーションマイクロスコープ  製品画像

    ハレーションマイクロスコープ 

    独自の照明効果で曲面・R面の観察も可能「PS-100-S7Z45R10…

    る ○半弧(140度)を10等分するハレーション照明を持つ ○ワークを中心に扇状の照明=R照明にて約70度の視野を持つ ○シャフト表面の打痕・キズ・汚れ等凹凸の隆起状態が確認できる ○面実装ICモールドのクラック、曲面検査・観察に適す ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社シーズインターナショナル

  • 3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』 製品画像

    3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』

    サブミクロン精度で高速・広範囲を3次元形状測定。エッジや斜面にも対応で…

    電(スマートフォン) ・LCDガラス ・OLEDマスク検査 ・表面の細かいスクラッチ等のキズ ・ワイヤボンディング ・ARグラス ■半導体製造プロセス ・欠陥検査 ・BGA検査 ・ICパッケージや回路検査 ■自動車関係 ・バルブ検査 ・車の内装 ・ガラス検査 ・エアバッグの溶接ビードの検査...

    • IPROS74508732381755543861.jpeg

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S6Z90A」 製品画像

    ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S6Z90A」

    外部照射光による正反射像なのでロスの無い画像が得られます。

    す。 微小角を持つ反射像が得られるので、表面の隆起状態が確認できます。 左側掲載の画像は「深さが読める」平面観察用ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S6Z90A」(高倍率)により、ICチップの汚れをハレーション照明と落射照明で撮像した比較画像です。 落射照明では汚れは捉えられてない画像ですが、ハレーション照明では、汚れがはっきり認識できる画像となっています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社シーズインターナショナル

  •  Leica DISTO S910 製品画像

    Leica DISTO S910

    3次元情報を取得できる!!世界初のレーザー距離計 XYZ座標 取得 …

    ~世界初の3次元情報を取得できる!!レーザー距離計~ 座標情報から2点間距離を測定する P2P(Point to Point)Technology によって、レーザー距離計の測定プロセスに大変革が起きました。  本体に組み込まれた Smart Base とチルトセンサーのコンビネーションにより、簡単に2点間測定ができます。...【製品情報】 ○ 3次元情報を取得できる ○ タッチスク...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ムーヴ 川崎事業所

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