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PR新たにクロスライト社のFDFDが加わり、FDTDより計算がかなり速く高…
<主な特徴> ■共振器方向の効果が重要なデバイスの設計・解析に適しています ■モード結合理論と多層膜光学理論によりDFB,DBR,VCSELのような回折格子を 含むレーザダイオードが計算可能 <多様な物理モデルや機能> ■ウェーブガイド・グレーティングの結合係数(1次、2次のグレーティング) ■縦方向のキャリア密度分布、主・副縦モードについての光学利得と光強度 ■2次グレーテ...
メーカー・取り扱い企業: クロスライトソフトウェアインク日本支社
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NVIDIA AGX Orin CPU搭載PC EAC-5000
PR鉄道、車載向け、NVIDIA Jetson AGX Orinを採用、拡…
【Vecow EAC-5000 特長】 ■幅260×高さ69×奥行182mm 3.27リットル ■NVIDIA Jetson AGX Orin, ファンレス動作 ■NVIDIA Ampera 2048 NVIDIA CUDAコアと64Tensorコア内蔵 ■64GB/32GB LPDDR5 ■1 M.2 Key M(2280), 1 M.2 Key B(3042/3052), 1 M.2...
メーカー・取り扱い企業: サンテックス株式会社
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薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
ゆる製品をご提案可能 【薄膜太陽電池向け分光エリプソメーター】 ○アモルファスシリコン ○微結晶シリコン ○GIGS ○CdTe ○DSSC ○有機物等の、光学特性の測定が可能 ○ITO膜 【測定可能な物理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k) ○屈折率の勾配と材料組成 【アプリケーション】 ○半導体 ○シリコン、有機、化合物半導体 ○太陽電池 ○有...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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ローノイズでコンパクト!裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用
によって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィルムの膜厚測定、ガラス基板上の配向膜・ITO膜のインライン計測、LEDの色計測などがあります。インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。 詳しくはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: ディスク・テック株式会社 本社
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