ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明か...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD（CDM）試験受託サービス

デバイス帯電モデル（Charged　Device　Model）のESD…

■ 各規格波形　JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC　に対し 　ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） 　の両方に対応します...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】テクノシェルパブログ 2020年4月～2020年8月

「SoCとDDRメモリの協調設計とは？」や「JEDEC 規格トイレとは…

と知ると便利です～（その4） ■2020.6.30 〇リングによる防水性を数値で示す！ ■2020.7.3 LED 点灯回路は意外と簡単！だけど意外と広く奥深い！？ ■2020.7.21 JEDEC 規格トイレとは？ ■2020.8.4 技術講座を自宅で受講！ ～オンデマンド講座/ライブ配信講座のご紹介～ ■2020.8.17 EMC 測定～放射エミッション測定のポイント～ ■202...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

（最大使用周囲温度）の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD・ラッチアップ試験

半導体デバイスの静電気放電に対する耐性評価の各種試験を行っております

【特徴】 ○適合規格 　・MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA ○仕様 　・最大テストピン数 256Ｐｉｎ 　・最大印加電圧 ±4,000V 　・DC供給電圧 ±30V　1A ○256pin以上でも対応...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

ESD（HBM・MM）試験受託サービス

半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD（静電気…

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス