• ラッチアップ試験受託サービス 製品画像

    ラッチアップ試験受託サービス

    CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

    ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明か...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ESD(CDM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(CDM)試験受託サービス

    デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…

    ■ 各規格波形 JEDEC、JEITA(EIAJ)、AEC に対し  ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)  の両方に対応します...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • exNAND (OEM対応eMMC) 製品画像

    exNAND (OEM対応eMMC)

    NAND FlashとControllerを1パッケージ化した、JED…

    Super Talent eMMC製品は、JEDEC eMMC 5.1規格に準拠しています。 eMMCは、スマートフォン、タブレット、PDA、電子ブックリーダー、デジタルカメラ、レコーダー、MP3、MP4プレーヤー、電子学習製品、デジタルテレビ...

    メーカー・取り扱い企業: Super Talent Technology, Inc. Super Talent Japan Office

  • 車載用半導体IC向け  2D/3D外観検査装置 製品画像

    車載用半導体IC向け  2D/3D外観検査装置

    車載用半導体ICの目視外観検査撤廃を実現!3D/2D寸法検査で高精度欠…

    3×3~30×30mm ・QFP、SOP:5×5~35×35mm ・QFN:3×3~12×12mm ■対象ボール径/ボールピッチ:Φ0.15mm以上/0.3mmピッチ以上 ■対象トレイ:JEDEC、JEITAトレイ ■検査項目 <BGA/CSP> ・浮き・端子高さ・スタンドオフ・反り・全高・端子中心位置・端子径  全長/全幅・パッケージ中心ズレ・パッケージ端・位置度A・端子ピッチ...

    メーカー・取り扱い企業: 日精株式会社 本社

  • 信頼性保証サービスのご紹介 製品画像

    信頼性保証サービスのご紹介

    JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製…

    ■高度加速寿命試験 5台 ■冷熱衝撃試験 24台 ■恒温恒湿試験 22台 ■液槽冷熱衝撃試験 3台 ■高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面(研磨)観察...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 反り・変形計測システム『TDM Compact 3』 製品画像

    反り・変形計測システム『TDM Compact 3』

    対流加熱モードや、強力ヒータ搭載!優れた温度均一性を実現します

    してコントロール可能なヒーターを使用し、 優れた温度均一性を実現。 高速加熱ヒーター&対流加熱モードのほか、微細解析のための 超高解像度カメラを搭載しております。 【特長】 ■JEDEC/JEITA/IPC規格基準 ■幅広いアプリケーションに対応 ■高速加熱ヒーター&対流加熱モード ■微細解析のための超高解像度カメラ ■自動レンズ切り替え機能(キャリブレーション不要) ...

    メーカー・取り扱い企業: 明治電機工業株式会社

  • ESD(HBM・MM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(HBM・MM)試験受託サービス

    半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気…

    ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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