• ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」 製品画像

    ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」

    JEITA、MIL、ESDA、JEDEC 規格準拠

    にできます。 現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。 【特徴】 [LATCH-UP部] ○ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合 ○ラッチ・アップ試験の最新規格、  入力ピン条件max HI/min LO を標準装備 ○クロック/パターン発生器 ○デバイス安定化機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタ...

    メーカー・取り扱い企業: 東京電子交易株式会社

  • ESD/CDM/ラッチアップ試験器「MODEL1200シリーズ」 製品画像

    ESD/CDM/ラッチアップ試験器「MODEL1200シリーズ」

    ESD試験/CDM試験/ラッチアップ試験を1台でサポートするコストパフ…

    【特徴】 ○MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合 ○1台でHBM、MM、CDM、LATCH-UP4種以上の信頼性評価試験が可能 ○最大印加電圧 8000V ○最大印加ポイント1500ピン ○印加前...

    メーカー・取り扱い企業: 東京電子交易株式会社

  • ESD試験機/LATCH-UP試験機 「7000Bシリーズ」 製品画像

    ESD試験機/LATCH-UP試験機 「7000Bシリーズ」

    ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合

    Model7000Bは、従来のModel7000の後継機として開発された最新モデルです。最大システム1024ピンの高い拡張性とModel7000の評価ボード(DUT)を 流用できる利便性を兼ね備えています。 またリレーマトリックス構造の変更により、ラッチアップ試験用の電源は最大6電源に、デバイスの安定化やダイナミックラッチアップ試験 に必要なパターン供給はプログラム選択可能となり、使い勝手の面で...

    メーカー・取り扱い企業: 東京電子交易株式会社

  • ESD試験機・ESDテスタ 「モデル1100-ESDシリーズ」 製品画像

    ESD試験機・ESDテスタ 「モデル1100-ESDシリーズ」

    モデル1100-ESDは、64ピンまでのICに対するESD試験(HBM…

    特長・機能 ○ MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合 ○ 最大10個のデバイスを同時に試験 ○ V-Iカーブによる破壊判定機能 ○ 複雑なピンコンビネーション試験に完全対応 ○ 外部試験機と接続可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 東京電子交易株式会社

  • ラッチアップ試験機 「モデル1100-LUPシリーズ」 製品画像

    ラッチアップ試験機 「モデル1100-LUPシリーズ」

    モデル1100-LUPは、ICに対するラッチアップ試験を簡単かつ正確に…

    特長・機能 ○ JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合 ○ 電流パルス試験、電源過電圧試験が標準仕様 ○ 最大3電源が接続可能 ○ デバイスピンへのプルアップ/ダウン設定が可能。 ○ PC画面上でI-V...

    メーカー・取り扱い企業: 東京電子交易株式会社

  • CDM試験機・CDMテスタ 「モデル1100-CDMシリーズ」 製品画像

    CDM試験機・CDMテスタ 「モデル1100-CDMシリーズ」

    モデル1100-CDMは、ICに対するCDM試験(誘導帯電および直接充…

    【特徴】 ○ ANJS/ESDA/JEDEC JS-002対応 ○ 最大印加電圧は4000V ○ 誘導帯電および直接充電方式のCDM試験 ○ カメラと高精度ロボットによる正確な位置合わせ ○ デバイスピンの形状に合わせ印加ピンは交...

    メーカー・取り扱い企業: 東京電子交易株式会社

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