• 静電気障害をnano除電除去装置で一気に解決!クリーンルーム対応 製品画像

    PRnano除電除去装置は、既存の除電器で、除去できない基材の内部電荷を除…

    既存の除電器では、基材の内部電荷の除去が不十分なためフィルムの製造・加工過程で静電気障害が発生します。 ・帯電模様・スタティックマークによる印刷・塗装障害。 ・インクの飛びや文字の歪みによる印刷障害。 ・ロール巻取り時の除電不足による障害。 ・巻き出し時の静電気増大による障害。 ・静電気による基材のズレ、反発・剥離等。 nano除電除去装置はそのような静電気障害を解決! ...(つづきを見る

  • 衝撃吸収・高耐久・防水作業着/レインウェア『ダイナギアソウル』 製品画像

    PR【期間限定!別売りプロテクター無料キャンペーン実施中!】衝撃吸収プロテ…

    『ダイナギアソウル DG-3000』は、耐久性、安全性を考慮した 高機能・高耐久モデルのプロテクトな作業着/レインスーツです。 「やぶれにくく丈夫なものを提供してほしい」 「しゃがみこみも楽な作業着、レインコートが欲しい」 などの方には、ご要望にお応えできる製品になっています。 シーンに応じて着脱可能なプロテクター(肩・膝装着可能/2枚付属)は ハードな製造現場、荷物/資...(つづきを見る

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  • プロジェクタ用レンズMTF測定装置『KQMP150』 製品画像カタログあり

    9点の測定箇所のMTFを各位置S/TまたはH/V方向で高速測定できる測…

    『KQMP150』は、9点の測定箇所のMTFを各位置S/TまたはH/V方向で高速測定できるプロジェクタ用レンズMTF(Modulation Transfer Function)測定装置です。 ご要望に応じて60インチから300インチ用まで対応いたします。 調芯機能(AA)追加可能モデルです。 【主な仕様】 ○測定可能レンズ範囲:60〜300inch ○測定方式:Finite orth...(つづきを見る

  • MWC6000 製品画像カタログあり

    MWC6000

    WLP(Wafer LevelPackage)に最適の実装装置 MWC6000を販売開始しました。MWC6000は300mmサイズのWaferに高精度の実装が可能でステージは石定盤と空気浮上で平坦度を1um以下にしています。またXY軸ともリニアモータ駆動で高速処理が可能です。X軸はデュアルmotor駆動でX軸の両側で駆動されています。また精度を出すために全軸に高精度のガラススケール(ハイデンハイン...(つづきを見る

  • フィゾー干渉方式/斜入射式「平面度検査器」 製品画像カタログあり

    フィゾー干渉方式および斜入射式の平面度検査器です。

    ○電気容量:100V 2A/100V 5A ○寸法:370×700×700/600×1300×1500 ○重量:約150kg/約500kg [斜入射式] ○型式:FT-M100P/FT-M150P ○測定視野:φ100mm/φ150mm ○測定感度:0.8~0.3μm可変 ○試料ホルダー:水平置き・縦型 ○拡大倍率:1× 3× ○光源:He-Neレーザー632.8nmまたは同等...(つづきを見る

  • レンズMTF測定器『KQMPシリーズ』 ※用途で選べる全5機種! 製品画像カタログあり

    携帯、カメラ、プロジェクタ、ドローン、車載向けなど幅広いラインアップ!…

    MTF測定器『KQMPシリーズ』は、独自のスーパーサンプリング技術で 高精度かつ安定的に、光学レンズの測定が行える製品です。 カメラ画像取込みとMTF演算を並列処理化することで、 演算時間を限りなくゼロに近づけ、より高速の測定を実現しました。 最大300インチまで対応できる「プロジェクタ用」をはじめ、 「車載向け魚眼/広角レンズ用」「携帯レンズ用」「デジカメレンズ用」 など、全...(つづきを見る

  • 温調ユニット 製品画像

    液晶等のフラットパネルディスプレイの温度-光学特性評価に最適!

    チラー等の付属品が標準装備されております。 必要なものはドライガスのみです。...MVTEMP-200は大型パネルを対象にし最大200mm×200mmに対応し-30℃〜+150℃に試料をコントロールします。MVTEMP-30は40\mm×40mm以下の試料を対象とし-50℃〜+150℃にコントロールできます。 どちらも顕微鏡にセットしての計測を可能にします。...(つづきを見る

  • 電子野帳搭載ノンプリズムトータルステーション SET3030R 製品画像

    光学測量機/ノンプリズムトータルステーション

    計測を行うために、対象物上にプリズムが必要ありません。 測定項目 角度、距離...測角部については、最小表示は 1″/5″選択可で、精度は3″です。 測距部については、レーザ出力は、ノンプリズムモード : JISクラス3B相当(IEC Class 3R相当)、出力5mW以下。反射シート、反射プリズムモード:JISクラス1相当、出力0.22mW以下です。 測定可能範囲はノンプリズム時 0.3か...(つづきを見る

  • DPSSマイクロチップ・グリーンレーザー 製品画像カタログあり

    小型・堅牢・低価格のグリーンレーザー

    単一周波数発振に近い縦モードで発振します。 横モードはTEM00モードです。 波長532nm、出力は0-150mwの可変です。 用途:光学調整用光源、光通信用光源(外部位相変調)、光計測用光源、光干渉計用光源、等...波長532nm、出力0-150mw、直線偏光(H/V>100) ヘッドサイズ25x25x80mm、ヘッド重量110g ...(つづきを見る

  • シュリーレン装置コンパクト『SLC-100SR』 製品画像カタログあり

    わずかな欠陥も、衝撃波、対流、伝熱などあらゆる現象を可視化

    シュリーレン装置コンパクト『SLC-100SR』は、Xe光源(LED光源)、シュリーレン光学系、CCDカメラを一体化した観測装置。あらゆる現象等を可視化します! 素材の欠陥、ガラス・結晶の脈理、衝撃波(風洞実験)、燃焼・噴霧・溶接シールドガス・伝熱・対流・水中音波・界面現象などあらゆる分野で活躍します。 【特長】 ■面倒な配置、光軸調整がいりません ■スイッチを入れたら、すぐに観測...(つづきを見る

  • 1550nm光パルスアナライザ「HR150」 製品画像カタログあり

    スペクトルやドメインのパルス強度、位相のパルス特性の測定に最適

    Coherent Solutions社光パルスアナライザ(HR150)は、スペクトルやドメインのパルス強度、位相のパルス特性を測定するFROGパルスアナライザです。 【特徴】 ○入力パルス時間 FWHM: 0.3-10ps(変形制限パルス) ○スキャン範囲:200ps ○分解能:15fs ○入力中心波長:1520-1610nm 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロード...(つづきを見る

  • トータルステーション SET5AS レンタル 製品画像

    トータルステーションのレンタル

    ・一般的なトータルステーションです。一台で角度・距離両方の測定ができます。 ・測定項目 角度・距離...型式はSET5ASです。 測定距離範囲についてはコンパクトは 1.3 から 500m、1 素子は1.3 から 800m、1.3 から 1,000m(良好)です。 測角精度は5 ″、測角最小表示は10 ″、測距精度は 測距精度±(5mm+3ppm×D)mm、測距最小表示は1mm(トラッキング...(つづきを見る

  • トータルステーション CS-235WF レンタル 製品画像

    トータルステーション

    測定項目 角度、距離...望遠鏡部について、有効径は45mm(EDM:50mm)、倍率は30倍、最短合焦距離は1.3mです。 測距部については、プリズムは3,000m(1素子プリズム)、1,000m(ピンポールプリズム)、測距精度は±(2mm+2ppm×D)※Dは測定距離、単位はmm、測距時間(初回測定時間)  ファインモード約1.2秒(約4秒)トラッキングモード約0.4秒(約3秒)です。 測...(つづきを見る

  • レーザー鉛直器 LV1 レンタル 製品画像

    レーザー鉛直器

    ・鉛直精度が、上方向±5″下方向±1′。 ・上下にビームを照射するので、地墨を上方階に上げる場合に便利です。 ・ビームは見やすく位置決めも簡単な小口径(上7mm、下2mm)...光源は半導体レーザーダイオード、波長は635nm、レーザー安全基準はJISクラス2、ビーム精度は上側 ±5″/下側 ±1′、測定範囲は上側 100m/下側 5m、ビーム径(出射位置)は上側 φ7mm/下側 φ2mmです...(つづきを見る

  • トータルステーション SET5WS レンタル 製品画像

    トータルステーション(ソキア)

    ・一般的なトータルステーションです。一台で角度・距離両方の測定ができます。 ・国土地理院 測量機種登録 3 級 ・測定項目 角度・距離...型式はSET5WSです。 測定距離範囲についてピンポールは1.3 から 500m、1 素子は1.3 から 1000mです。 測角精度は5 ″、測角最小表示は5 ″/10 ″(切替)、測距精度は測距精度±(3mm+3ppm×D)mm、測距最小表示は1mm...(つづきを見る

  • トータルステーション THE-2003 レンタル 製品画像

    トータルステーションのレンタル

    ・一般的なトータルステーションです。一台で角度・距離両方の測定ができます。 ・測定項目 角度・距離...型式はTHE-2003です。 測定距離範囲について、ピンポールは 500m、1 素子は700mです。 測角精度は10″、測角最小表示は20 ″/10 ″ (切換え可能)、測距精度は測距精度±(5mm+3ppm×D)mm、測距時間は初回 1.2秒、倍率は30 倍です。 防水性能は保護等級I...(つづきを見る

  • 小型分光器 Qmini2、Qwave【USB接続用の小型分光器】 製品画像カタログあり

    USB接続用の小型分光器!2500ないし3648画素CCD検出器を内蔵…

    UV/VIS/NIRレンジ(220~1100nm)の測定に対応するUSB接続用の低価格小型分光器です。2500ないし3648画素CCD検出器を内蔵し、16bit、高波長分解能の測定データを提供します。標準的な透過測定、吸収測定、反射測定のほか、波長可変光源の波長モニターや蛍光測定、カラリメトリーといった多種のスペクトル測定に対応するほか、スペクトル取得を目的とする測定器への組込み用途にもご使用いた...(つづきを見る

  • 光損失測定装置 製品画像

    プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

    ●633nm、830nm、1310nm、1550nm等、最大4つのレーザーを同時搭載可能 ●低価格、一年間のメーカー補償付 ●TL-9000、ISO-9001保有 ●サンプルを送付頂けましたら、デモ測定致します。 ...●光導波損失・測定可能精度:0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度(当社調べ) ●光屈折率・測定可能範囲:1.0〜2.4 精度:0....(つづきを見る

  • Focuslight社 高出力半導体レーザー 総合カタログ 製品画像カタログあり

    12種類の高出力LDを軸に100種類上の製品をリリース。シングルエミッ…

    Focuslight 社は高出力半導体レーザー(LD)の研究、開発、製造、販売を行い、 産業、医療、ディスプレイ、照明、娯楽、理化学応用に貢献すべく2007年に 設立されました。 またLD製造他社のODMやOEMをはじめ、LDチップの評価、バーンインテストなど 各種の試験の受託業務も行っております。 出力レンジは数Wから、数10W、数100W、数1000Wまで対応致します。 波長は、6...(つづきを見る

  • 高出力ラインレーザー光源『ILS/FIRELINEシリーズ』 製品画像カタログあり

    波長・出力が新たにラインアップ!マシンビジョンや光切断計測、光三次元計…

    『ILS/FIRELINEシリーズ』は、サーモエレクトリック クーラー内蔵の高出力ラインレーザー光源です。 高出力のシリーズに波長・出力が新たにラインアップされました。 高性能の安定したラインレーザービーム性能が得られます。 当製品は、マシンビジョンや光切断法による光三次元計測、 各種レーザー計測、フローサイトメトリー、 バイオフォトニクスなど、様々なご要求に対応できます。 ...(つづきを見る

  • 高感度マルチチャンネル分光器 QEPro 製品画像

    光学ベンチの改善で波長の熱安定性が向上。ユーザ側でスリット交換可能。シ…

    特長 ・ユーザー交換可能なスリット ・高量子効率・UV高感度・取り扱い簡便 ・最大15,000スペクトルのバッファリング可能 ・A/D分解能:18bit ・コンパクト(182×110×48mm/1150g) ・内蔵シャッタ選択可能(オプション) ・裏面入射型CCDによりUV域において高い量子効率 ・電子冷却型CCDにより低ノイズ、低ダークシグナル ・簡易接続USBバスパワー(...(つづきを見る

  • 濃厚系粒度分布測定器『APS-100/Zeta-APS』 製品画像カタログあり

    サンプルの希釈が不要!粒度分布の形状を仮定せずに測定可能

    「APS-100」は、は超音波の減衰率を測定することにより、濃厚系サンプルの粒度分布を計測します。 サンプルを希釈することなく、撹拌またはポンプ循環しながら、広い粒子径範囲(10nm~100μm)の測定ができます。 「Zeta-APS」は、APS-100 にZeta Acoustic(ESA)の機能を付加した粒度分布/ ゼータ電位測定両用機です。 一度のサンプルセットで粒度分布、ゼータ電...(つづきを見る

  • 『ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView』 製品画像カタログあり

    最大11ヶ所をスキャンして解析!蛍光測定による粒子識別やゼータ電位決定…

    『ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView』は、 ブラウン運動するナノ粒子を動画撮影することにより、個々の粒子のサイズ、 粒子濃度を解析する手法を用いた解析装置です。 オートアライメント調整とオートフォーカス機能により、測定準備に要する 時間を短縮。粒子径分布と濃度決定もわずか90秒で測定可能です。 【特長】 ■最大11ヶ所をスキャンして測定 ■迅速測定 ■直観...(つづきを見る

  • 輝度箱(A光源/B光源切替型)「LB-8611A」 製品画像カタログあり

    低輝度~高輝度まで高精度に再現、A/B光源切替型(耐環境仕様)【※デモ…

    LB-8611Aは、低輝度~高輝度まで高精度に再現、A/B光源切替型(耐環境仕様)の輝度箱です。デジタルカメラ、イメージセンサ撮像素子の調整、評価用光源です。1Lvピッチでダイレクト輝度再現でき、0.1Lvピッチで輝度微増減が可能です。ダーク機能、A光源/B光源切替機能付きです。光源部は耐環境仕様(温度-20°~+50°/ 湿度20%~80%)です。カメラ調整、CCD/CMOSセンサーの評価・検査...(つづきを見る

  • マイクロレンズ用透過波面収差測定検査装置 製品画像

    マイクロレンズの評価を行う際に形状は問題なく出来ているようでも、実際に…

    弊社マイクロレンズを評価する測定器の測定レンジは、他の干渉計とは違います。また、ユーザカスタマイズを行うことが出来ますので、ご希望の波長、レンジに対応したシステムの設計、製作を行います。...現在、マイクロレンズ(Micro Lens)/マイクロレンズアレイ(Micro Lens Array)はより精密な製造が可能となっています。弊社は、独自の技術を用いマイクロレンズの透過波面収差測定を行い、マイ...(つづきを見る

  • 全自動多目的X線回折装置『SmartLab SE』 製品画像カタログあり

    材料分析に最適な標準モデル!ガイダンス機能を搭載したX線回折装置

    リガクの『SmartLab SE』は、ガイダンス機能を搭載した多目的のX線回折装置です。ガイダンス機能では、リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。 微量成分の検出や粉末未知試料の結晶構造解析も可能。2次元検出器「HyPix-400(ハイピックス400)」を標準で選択できるため、微小部測定やIn-situ 測定、小角X...(つづきを見る

  • カルニュー精密屈折計 KPR-3000 製品画像

    簡単かつ高精度な屈折率測定を実現するVブロック式を採用しているKPRシ…

    当社独自の測定方式であるVブロック方式を採用しており、優れた精度と再現性で屈折率の測定を行うことができます。 <特長> 1. 従来比1.5倍の高精度,高速化を達成 最小偏角法に迫る±0.00002の高精度に,5波長(d,C,F,g,e線)を40秒で測定します。 2. 波長依存性,温度依存性を把握/推定できる多彩な測定が可能 標準5波長,オプション搭載で最大16波長での測定が可能で...(つづきを見る

  • 一体型ナノ秒OPO(355nm/532nm/1064nm 励起) 製品画像

    355nm, 532nm, 1064nm 励起タイプの波長可変ナノ秒レ…

    コンパクトなハウジング内にOPO とNd:YAG Q スイッチレーザを集積した一体型の波長可変ナノ秒レーザで、PC制御で簡単に操作可能。 【一体型小型ナノ秒OPO NT340, NT350, NT370シリー ズ】  その他各種NLシリーズ有り 【高出力単一縦モードタイプ NL120シリーズ ...【一体型小型ナノ秒OPO NT340シリー ズ】 ★波長域:210...(つづきを見る

  • 超小型デジタル録画カメラ/品番 M1339VS-143289S 製品画像

    超小型ボディ+アタッチメントで広がる可能性!

    ●超小型ボディ+アタッチメントで広がる可能性! 撮影のために片手がふさがらない!わずか約23gの軽量ボディに親指大の超小型サイズ。 両手を使わないハンズフリー撮影が可能なので、使用用途が大きく広がります。 ●音声も逃さず録音!臨場感あふれる動画が撮れる! 動画ファイルには音声も録音されます(WAV音声)。 現場での迫力あるシーンを動画と音声で確実にとらえることが可能です。 ●さ...(つづきを見る

  • OPTO DIODE社 XUV−UV検出用Siフォトダイオード 製品画像カタログあり

    軟X線〜UV領域での内部量子効率がほぼ100%

    OPTO DIODE(旧IRD)社は米NIST・LLNL他研究機関と共同で、軟X線〜UV領域において内部量子効率がほぼ100%のSiフォトダイオードを開発しました。 取扱い易く、小型のSiフォトダイオードは、高光エネルギー研究分野のみならず、エレクトロン・イオンの領域においても期待されています。...★特長★ ‐ 対応波長感度領域*:0.04nm〜1100nm (エネルギー領域:1.12eV〜...(つづきを見る

  • 膜厚-光屈折率-光伝搬損失 測定装置 製品画像

    プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

    ●633nm、830nm、1310nm、1550nm等、最大4つのレーザーを同時搭載可能 ●低価格、一年間のメーカー補償付 ●TL-9000、ISO-9001保有 ●サンプルを送付頂けましたら、デモ測定致します。 ...●光導波損失・測定可能精度:0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度(当社調べ) ●光屈折率・測定可能範囲:1.0〜2.4 精度:0....(つづきを見る

  • トータルステーション R-360C レンタル 製品画像

    トータルステーション

    ・一般的なトータルステーションです。一台で角度・距離両方の測定ができます。 ・国土地理院認定予定 3級トータルステーション ・測定項目 角度・距離...型番はR-360cです。 望遠鏡・・・倍率は30×、対物有効径は45mm(EDM45mm)、分解力は3″、最短視準距離は1.0mです。 フォーカス部・・・フォーカスモードはオートフォーカス,パワーフォーカス,マニュアルフォーカス、AF検出方...(つづきを見る

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