• 静電気障害をnano除電除去装置で一気に解決!クリーンルーム対応 製品画像

    PRnano除電除去装置は、既存の除電器で、除去できない基材の内部電荷を除…

    既存の除電器では、基材の内部電荷の除去が不十分なためフィルムの製造・加工過程で静電気障害が発生します。 ・帯電模様・スタティックマークによる印刷・塗装障害。 ・インクの飛びや文字の歪みによる印刷障害。 ・ロール巻取り時の除電不足による障害。 ・巻き出し時の静電気増大による障害。 ・静電気による基材のズレ、反発・剥離等。 nano除電除去装置はそのような静電気障害を解決! ...(つづきを見る

  • HIAC液中微粒子計測器『System 9703+ -MC05』 製品画像

    PR光散乱方式と光遮断方式に同一センサーで対応!メンテも簡単。無料デモ受付…

    HIAC液中微粒子計測器『System 9703+ -MC05』は、 同一センサー内に光散乱方式と光遮断方式の測定原理を搭載し、 0.5~350μmのワイドレンジな測定に対応できる製品です。 用途に応じて「HRLD400センサー」に変更することで2~400μmの粗大粒子の測定も可能。 注射剤の不溶性微粒子試験から部品の洗浄液評価まで幅広く活躍します。 【特長】 ■ボタン一つで容...(つづきを見る

  • 読取顕微鏡『Zシリーズ』 製品画像

    測定範囲Z軸150mm、測長変更も可能。特注・アナログ仕様はご相談くだ…

    『Zシリーズ』は、測定範囲 Z軸150mmの読取顕微鏡です。 測長の変更が可能です。 標準、マグネット付、マグネット+回転テーブル付を ラインアップ。 その他、特注仕様に関しましてはご連絡ください。 アナログ仕様に関しましては、別途ご相談ください。 【特長】 ■測定範囲:Z軸 150mm ■測長変更が可能 ■標準、マグネット付、マグネット+回転テーブル付  をライ...(つづきを見る

  • 読取顕微鏡『XZシリーズ』 製品画像

    測定範囲X軸200mm、Z軸150mmなど。特注・アナログ仕様ご相談く…

    『XZシリーズ』は、当社が取り扱っている読取顕微鏡です。 最小読取値は、0.01mm(デジマチック仕様)。 その他、特注仕様に関しましてはご連絡ください。 アナログ仕様に関しましては、別途ご相談ください。 【仕様】 ■測定範囲  ・X軸:200mm、300mm、500mm、1,000mm  ・Z軸:150mm、200mm、300mm、460mm ■最小読取値:0.01...(つづきを見る

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