• プラスチック製配管部品  総合カタログ|只今無料進呈中! 製品画像

    PRつなぐ・止める・切り離す|チューブ用継手からバルブ、カップリング、フィ…

    サンワ配管部品は、流体配管における「つなぐ」「止める」「切り離す」をテーマにラインナップされています。 軟質または半硬質チューブ用継手からバルブ、カップリングに至るまで、豊富なバリエーションで各種機器や装置の設計開発、製造を支援します。 新製品も続々発表中▶詳しくは、お問い合わせください。 ・耐熱プラスチック製カップリング ・液冷専用ノンスピル・カップリング ・高純度薬品使用に適した...(つづきを見る

  • テストソリューション『PCR』 製品画像カタログあり

    ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えないテストソリュ…

    PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな...(つづきを見る

  • 超高精度フリップチップ・ダイボンダー 製品画像

    ±1um以下の超高精度アライメント。試作開発に最適

    試作/開発に特化したダイフリップチップボンダー。 高精度ダイボンダー&フリップチップボンディング機能を兼備え モニター画面により手動調整にて超高精度ボンディングを行います。 (型式:MOA1250の場合 無負荷アライメント±1micron) PC又はシーケンサーコントロールにより簡易に高精度ボンディングを実現。 ●シリコンウェハー/チップ/セラミック基板/FR4等対象物を選びませ...(つづきを見る

  • 成膜装置『ロールコーター』 製品画像カタログあり

    ドラムレスのフラットWeb搬送と処理表面の成膜前非接触搬送を実現!成膜…

    『ロールコーター』は、プラスチックフィルム・金属フィルム等に連続的に 表面処理をする装置です。 ドラムレスのフラットWeb搬送と処理表面の成膜前非接触搬送を可能にし、 成膜は、プラズマCDV法、スパッタリング法、真空蒸着法等のプロセス を組み合わせたマルチプロセスが可能です。 また、素材ロールの脱ガス対策にTMP+CRT排気システムの採用しました。 【特長】 ■ドラムレス...(つづきを見る

  • 最高のコストパフォーマンス 薄膜蒸着モニター STM-2 製品画像

    驚くほどの低価格で、高パフォーマンス。研究開発の必需品です。

    STM-2は薄膜蒸着レートと膜厚を精確かつ、低コストで測定する小型トランスデューサです。設定と操作は非常に簡単です。STM-2のBNCコネクタをQCM(Quartz Crystal Microbalance)センサーから出ている信号ケーブルに接続し、他方を標準USBケーブルを介してPCへ接続してください。オシレーターや電源を外部接続する必要はありません。無償提供されるSTM-2ソフトウェアをご使用...(つづきを見る

  • ECRイオンビームシャワー装置『EIS-1200』 製品画像

    ECRプラズマ方式によるナノインプリントモールド作成を実現!

    Arガスで金属薄膜が精度よく加工でき、条件を変えることで石英もエッチングできます。ナノインプリント用モールドの作成ほか、様々なナノテク分野の研究・加工で必要となる石英基板や磁性膜などのエッチングを行うことができます。 ...【特徴】 ○ECRプラズマ方式を採用 ○低加速電圧で長時間安定したプラズマによりナノメートルオーダーの微細加工に有利 ○省スペース ○PCによる自動制御 ○銃のみご提...(つづきを見る

  • 『レーザーはんだ/リフロー装置』JPCA Show 2019出展 製品画像カタログあり

    広範囲かつ均一なレーザー照射で生産性アップ。熱応力による反り・変形を防…

    当社では、レーザーの照射範囲を広域化した“エリアレーザー”によって 均一な熱分布と熱拡散を実現し、基板やデバイスへのダメージを防げる Crucial Tec社製『レーザーはんだ/リフロー装置』を取り扱っています。 【特長】 ■恒温領域の面積・設定温度が可変 ■段差のある基板へも対応可能 ■同じ基板内で異なる温度のはんだ付けが可能 ■鉛フリーはんだを数秒で溶解することが可能 ...(つづきを見る

  • 光学薄膜プロセス測定の決定版 薄膜蒸着コントローラー XTC/3 製品画像カタログあり

    シングル、マルチレイヤーに対応し、世界の光学薄膜プロセスに大きく貢献し…

    シングル、マルチレイヤープロセス薄膜蒸着コントローラに必要なすべての機能を1台の装置で実現したXTC/3は、ModeLock技術(特許取得)を使用しモードホッピングを防ぎ、高い蒸着精度を保証します。XTC/3 薄膜蒸着コントローラをご使用頂くことにより、実質的にレイヤー数に制限のない多層薄膜の蒸着速度と膜厚の精密コントロールが可能となり、しかも設置が簡単で極めて高い信頼性を持つこの装置は生産性向上...(つづきを見る

  • 4200-SCS型半導体特性評価システム(パラメータアナライザ) 製品画像カタログあり

    複雑な特性評価をかんたんに

    高精度でフェムトアンペア 以下の分解能で、研究室グレードのDC デバイス特性評価、リアルタイムプロット、解析を実行します。...【特徴】 ○ポイント&クリックするだけの直感的なWindowsベース環境 ○ユニークなリモートプリアンプ構造により、SMUの分解能を0.1fAに拡張 ○先端半導体試験のためのパルス発生/測定 ○パルス測定/スコープ機能を1枚のカードに集約 ○組込型PCにより、テ...(つづきを見る

  • 半導体信頼性試験ソリューション 半導体特性評価システム 製品画像カタログあり

    複雑な特性評価をかんたんに

    高精度でフェムトアンペア 以下の分解能で、研究室グレードのDC デバイス特性評価、リアルタイムプロット、解析を実行します。...【特徴】 ○ポイント&クリックするだけの直感的なWindowsベース環境 ○ユニークなリモートプリアンプ構造により、SMUの分解能を0.1fAに拡張 ○先端半導体試験のためのパルス発生/測定 ○パルス測定/スコープ機能を1枚のカードに集約 ○組込型PCにより、テ...(つづきを見る

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