チェックしたものをまとめて:

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    モリブデンSPDカセットの性能劣化を合否判定します。

    モリブデンSPDテスターは、モリブデンSPDカセットの性能劣化を合否判定します。 SPDの劣化による被害発生を防ぎます。 雷サージカウンターは、雷サージ電流の通過回数をカウントします。 雷サージ発生の傾向が...(つづきを見る

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    モリブデンの特性を生かした高速応答により、電子機器を保護します。

    備には、低電圧の半導体を使用した電子機器が多く使われています。 これらの機器は、小さな雷サージでも破損し設備の故障や誤作動につながります。 雷サージのエネルギーを最小限に抑えるために高速応答のSPDが求められています。 モリブデンSPDは、素子にモリブデンを採用することで2.5ナノ秒の高速応答を実現しました。 また、モリブデンは高融点(2,623度)のため、サージ吸収の火花による電極の磨...(つづきを見る

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    カテゴリC2(JIS C 5381-21)対応

    備には、低電圧の半導体を使用した電子機器が多く使われています。 これらの機器は、小さな雷サージでも破損し設備の故障や誤作動につながります。 雷サージのエネルギーを最小限に抑えるために高速応答のSPDが求められています。 モリブデンSPDは、素子にモリブデンを採用することで2.5ナノ秒の高速応答を実現しました。 また、モリブデンは高融点(2,623度)のため、サージ吸収の火花による電極の磨...(つづきを見る

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    クラスII(JIS C 5381-1)対応

    備には、低電圧の半導体を使用した電子機器が多く使われています。 これらの機器は、小さな雷サージでも破損し設備の故障や誤作動につながります。 雷サージのエネルギーを最小限に抑えるために高速応答のSPDが求められています。 モリブデンSPDは、素子にモリブデンを採用することで2.5ナノ秒の高速応答を実現しました。 また、モリブデンは高融点(2,623度)のため、サージ吸収の火花による電極の磨...(つづきを見る

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    FT型、N型、BNC型、F型をラインナップしております。

    備には、低電圧の半導体を使用した電子機器が多く使われています。 これらの機器は、小さな雷サージでも破損し設備の故障や誤作動につながります。 雷サージのエネルギーを最小限に抑えるために高速応答のSPDが求められています。 モリブデンSPDは、素子にモリブデンを採用することで2.5ナノ秒の高速応答を実現しました。 また、モリブデンは高融点(2,623度)のため、サージ吸収の火花による電極の磨...(つづきを見る

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