• 【受託加工】フッ素コーティング技術『UTFコート標準タイプ』 製品画像

    PR6~7nmの超薄膜を実現。60℃以下の低温処理で様々な基材に応用可能。…

    『UTFコート標準タイプ』はプラズマ処理を利用したフッ素コーティング技術です。 プラズマによる分子結合で、母材と塗膜の密着力を高め、剥離を防止。 6~7nmの超薄膜のため寸法精度を気にせず処理でき、 非粘着性や撥水・撥油効果が長期にわたり持続します。 60℃以下の低温で処理するため、金属はもちろんガラス、陶器、布、 各種エンプラなど様々な基材に応用可能です。 【応用事例】 ■...(つづきを見る

  • 超高圧マシン『ウルトラジェッター 油圧ブースタータイプ』 製品画像

    PR剥がす、削る、磨く!驚異のウォーターパワー!油圧ブースタータイプのご紹…

    「ウルトラジェッター」は、超高圧水の強力なパワーで、コンクリートの 脆弱部分や強固に付着した物質などを除去するマシンです。 『油圧ブースタータイプ』は、橋脚等の劣化したコンクリートなどの ハツリをはじめ、舗装道路の白線消し、タイル貼り付け時の下地の目粗し、 塗装ブースの塗膜剥離、アスベスト除去などに効果的です。 【特長】 ■超高圧水の強力なパワー ■コンクリートの脆弱部分や強...(つづきを見る

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  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置『NEX QCシリーズ』 製品画像

    コンパクト、シンプルな卓上タイプ!品質管理のための元素分析装置!

    『NEX QC』は、超小型で扱いやすいエネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 データ解析用コンピューターとサーマルプリンター内蔵で、この1台だけで分析が完結。NaからUまでの定量分析(検量線法)ができます。 タッチパネル式のユーザーインタフェースで操作も簡単、製造の工程管理に最適です。 【特長】 ■超コンパクト ■品質管理のための元素分析装置 ■多様なアプリケーションに対応...(つづきを見る

  • 蛍光X線分析装置『XRシリーズ』 製品画像

    前処理なしで非破壊分析!1台でマルチ測定可、FP定量ソフト搭載。卓上タ…

    蛍光X線分析装置『XRシリーズ』は、固体・液体・粉体などの 試料に含まれる元素の種類・含有量を前処理なしで測定・分析。 目的元素にあったX線管やフィルター構成が選択でき、 RoHS、ELV、玩具規制など、各種環境規制に対応した分析も行えます。 また、標準物質がなくても、含有成分の定量ができる、 FPソフトウェアも標準装備しています。 【特長】 ■検量線をカスタマイズして登録可...(つづきを見る

  • 蛍光X線分析器「X-RAY XAN250/XAN252」 製品画像

    薄膜や微量元素の分析に最適!貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可…

    「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)250/XAN(R)252」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 特に薄膜や微量元素の分析に適しています。 XAN250とXAN252は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XAN252」は手動XYステージタイプ・大型安全フー...(つづきを見る

  • 蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ LD』 製品画像

    プリント回路基板やコネクターなどの複雑形状の小さな部品や構造部分の測定…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることがで...(つづきを見る

  • インライン測定システム『X-RAY 5000』 製品画像

    大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム…

    『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の 薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。 再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、 デジタル信号処理技術により、非常に高いレベルに保たれています。 測定ヘッドはコンパクト設計になっており、製造ラインに直接組み込むことができます。 【特長】 ■大きな測定エリアを持つ量...(つづきを見る

  • モノクロ偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置「ゼポス」 製品画像

    手軽に洗浄液中の異物を分析!エネルギー分散型蛍光X線分析システム

    XEPOS「ゼポス」はスペクトロ社のX線分析技術を駆使し開発された最新のエネルギー分散型蛍光X線分析装置です...2次ターゲットにはモノクロ偏光光学系を採用、更にチッソ冷却不要の高性能SDD検出器を標準搭載することによって検出能力が大幅に向上しました。 解析にはスペクトロ社独自のFPソフトウエアによって未知試料を定量分析することが可能です。 従来のスクリーニング定性分析用途に加え、有害重金属分...(つづきを見る

  • SUS製ミニチュア クイックカップリング(シャットオフ) 製品画像

    "ミニチュアサイズ"、かつ"シャットオフ…

    1;最小M3接続(写真ご参照)と非常にミニチュアサイズ  2;シャットオフ機構により流体の漏れがありません。メス側のみ(シングルシャットオフ)、もしくはオスメス両方(ダブルシャットオフ)のタイプ有ります  3;本体材質はSUS316をはじめ、SUS303や真鍮。Oリング材質も、NBR、EPDM、VITON、パーフロ等の選択があります  4;高いシール性を有します(出荷前全製品にリ...(つづきを見る

  • 走査型蛍光X線分析装置『ZSX Primus IVi』 製品画像

    液体、合金、メッキ板等のルーチン分析に好適!分析の現場で効率的な装置稼…

    『ZSX Primus IVi』は下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です。 試料の下面からX線を照射するため、液体試料は試料フィルムを張った試料セルに注ぎ込むだけ、 デイスク状の合金、メッキ板、ガラス板などの塊状試料は測定面を下にして そのまま試料ホルダーに置くだけで容易に測定ができます。 加圧成形が困難な粒子状試料、少量試料、破片状小径試料等に対しては、 試料フィルムを張っ...(つづきを見る

  • ハンドヘルド型 蛍光X線分析装置 MESA Portable 製品画像

    小型・軽量・高感度、サンプル前処理不要で、お客様の現場作業効率UPに貢…

    【製品カタログは「お問い合わせ」よりご請求ください】 ○ポータブル性がさらに向上! ■ 当社従来機より約20%小型化 ■ 質量約1.5kg(バッテリー含む) ■ バッテリー駆動で屋外や電源のない場所でも手軽に測定(最大駆動時間:10〜12時間) ○手間なくスピーディに測定! ■ サンプルの加工・前処理不要 ■ 10秒以内で材質判別 ■ 判別率97%(131種標準試料...(つづきを見る

  • X線分析顕微鏡 XGT-7200V 製品画像

    試料観察から元素分析までをシームレスに実施!SDD搭載X線分析顕微鏡。

    【製品カタログは「ホームページへ」よりダウンロードください】 XGT-7200Vは、X線ガイドチューブを用い微小領域を分析できる顕微鏡タイプの蛍光X線分析装置であり、内蔵CCDカメラの光学像で試料を観察しながら、簡単に元素分析が行えます。 HORIBA独自のX線集光素子を使った、細くて強度の高いX線ビーム方式を採用し、X線コリメータを使った従来の方式に比べ微小部の高速測定が可能です。また新...(つづきを見る

  • マイクロプレートリーダー SpectraMax iD5 製品画像

    マイクロプレートリーダーの最高峰。吸光、蛍光、発光、時間分解蛍光(TR…

    マイクロプレートリーダーSpectraMax iD5は、吸光、蛍光、発光、時間分解蛍光(TRF)および蛍光偏光(FP)測定モードを内蔵するマルチモードリーダーです。 さらなる機能拡張により、発光下方測定、TR-FRET、HTRF、BRET、インジェクターを用いたデュアルルシフェラーゼレポーターアッセイ、そして、ウェスタンブロット検出に対応します。 【特長】 ■モノクロメーターとフィ...(つづきを見る

  • 走査型蛍光X線分析装置『ZSX Primus IV』 製品画像

    高速・高精度測定!初心者でも簡単に正確な分析結果を得られるX線分析装置

    『ZSX Primus IV』は上面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です。 測定・解析をサポートする“ZSX Guidance”を備え、初心者の方でも簡単に 正確な分析結果が得られます。 デジタル計数システムや高速駆動のゴニオメーター、最適化された 制御システムにより、高速・高精度測定を実現。人工多層累積膜や 真空制御機構により超軽元素測定も可能です。 ※詳しくはカタログ...(つづきを見る

  • 蛍光X線分析器「X-RAY XAN215」 製品画像

    貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます!

    「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)215」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 対象元素はCl(17)からU(92)までで、24元素を同時に分析が行えます。 主な測定対象としては、ジュエリー・貴金属および歯科用合金、イエロー・ホワイトゴールドなどの金性、プラチナおよび銀、ロジウムメッキされた金や銀合金、合金組...(つづきを見る

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